[发明专利]分离基板与半导体层的方法无效
申请号: | 200910130868.2 | 申请日: | 2009-04-16 |
公开(公告)号: | CN101866880A | 公开(公告)日: | 2010-10-20 |
发明(设计)人: | 涂博闵;黄世晟;叶颖超;林文禹;吴芃逸;马志邦;洪梓健;沈佳辉 | 申请(专利权)人: | 先进开发光电股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/78 | 分类号: | H01L21/78;H01L21/02;H01L21/20;H01L21/31;H01L21/311;H01L33/00 |
代理公司: | 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 吕俊清 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 分离 半导体 方法 | ||
技术领域
本发明是有关一种III族氮化物半导体发光元件的结构及其制造方法,特别是有关于分离基板与半导体层的方法以形成III族氮化物垂直发光元件。
背景技术
近年来,LED在研发上主要把焦点放在提升以GaN为基础的高发光率的LED(High-Power Light Emitting Diode)。因此,GaN LED迅速的延伸应用在极高亮度的领域上,例如各种萤幕的背光单元,以渐渐取代传统的冷阴极管或是灯泡。
有许多改善LED发光的方法,例如使用全方向性的反射杯、粗化发光表面、倒装芯片技术等。元件的温度每升高10度将减少5%的发光效率。由于蓝宝石基板为导电性及导热性都不佳的材质,使得元件发光所产生的热无法迅速散去。为解决散热的问题,因此衍生了以Laser去除蓝宝石基板的方法形成垂直元件。
激光剥离方法(Laser Lift Off)是以发射高能量的激光到达蓝宝石基板与GaN层之间的界面,产生的高温足以让GaN层形成液态金属Ga和气态的N而被分解。然而激光剥离方法(Laser lift off)有许多的缺点,例如激光的高温在GaN层的分部不均匀,容易使得部份区域的温度过高而破坏结构,或是经过激光剥离过后,一些金属Ga可能会残留在GaN层上,必须再增加一道程序移除金属Ga等。
图1A~1B是美国第US6,071,795号专利的基板分离示意图。如图1A所示,先在一蓝宝石基板102上依序形成一分离区104及一氮化硅层106,然后将接合层108涂布于氮化硅层106的表面。通过接合层108的粘着特性,再将一硅基板110与前述蓝宝石基板102的迭层结构相互粘合。利用一激光光束112穿透过蓝宝石基板102表面以照射分离区104,从而使得分离区104的材料分解(Decomposition)。再清除分解后残留在氮化硅层106的材料,就能得到硅基板110及氮化硅层106的组合体。由图1B所示,由于硅基板110和氮化硅层106之间有不导电的接合层108,因此仍无法作为垂直元件的基础结构。而且接合层108若涂布或材料选用不佳会影响粘合结果,甚至造成薄膜的氮化硅层106产生缺陷。
图2是美国第US 6,740,604号专利的基板分离示意图。本现有技术与图1A~1B中现有技术相似。第一半导体层202及第二半导体层204也通过激光光束206照射介面,从而使第二半导体层204在界面处产生分解,最后可以将第一半导体层202自第二半导体层204上分离。该第二半导体层204可以是形成于一基板上的膜层,也就是以一基板取代第一半导体层202,再将该二者分离。
图3是美国第US 6,746,889号专利的基板分离前的示意图。先在一基板302上成长多个外延层,其包含一第一型导体区304、一发光PN结区306及一第二型导体区308。自第二型导体区308方向切割该多个外延层的切割道312,如此就于基板302上形成多个分离的发光二极管裸片310。再将第二型导体区308与子基板(Submount)314粘合。以类似前述现有技术,同样以激光光束316穿透基板302表面,而使得基板302和第一型导体区304分离。分离的发光二极管裸片310可以自子基板314上取下,从而进行封装制造工艺。很明显,切割该多个外延层后,各发光二极管裸片310粘合于子基板314时容易因外力而彼此推挤,所以容易晶崩(Die Crack)造成损坏。
图4是美国第US 6,617,261号专利的基板分离示意图。先在一蓝宝石基板402形成氮化镓层404,再以蚀刻制造工艺在氮化镓层404形成多个沟渠408。然后以黏胶将一硅基板406粘合于该具沟渠408的氮化镓层404表面,并以紫外线准分子激光发出的激光光束410照射蓝宝石基板402。激光光束410穿过透明的蓝宝石基板402,进一步接触及分解氮化镓层404,如此就能得到一具有氮化镓层404的硅基板406。然而该氮化镓层404分解处还需以盐酸处理残余的镓,并修补该表面才能进行后续的外延制造工艺。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造