[发明专利]电容器漏电流测定方法和电容器漏电流测定装置

说明书

技术领域

本发明涉及进行电容器的漏电流测定的电容器漏电流测定方法和 电容器漏电流测定装置。

背景技术

电容器的漏电流测定方法一般是按照作为日本工业规格的JIS C 5101-1的4.9项的规定。该规定是“对电容器施加直流电压，从大致到达 该电压起最大5分钟后进行测定。在以短时间到达了规定的漏电流值的 情况下，不需要施加5分钟的期间”。

图7是与漏电流测定相关的一般的电容器C0的等价电路图。如图 7所示那样，电容器等价地构成为将主电容C、绝缘电阻R1、电介质吸 收因子D并联连接。电介质吸收因子D是将通过对电容器C0施加了电 压时在内部发生的电场而形成的电介质极化，以串联连接的内部电阻和 电容(以下，称为电介质极化电容)表示。如非专利文献1所述那样， 电介质极化从开始电容器C0的充电起经过一定时间后稳定，在到稳定 为止的期间中，经由内部电阻进行向电介质极化电容的充电。下面，将 向电介质极化电容的充电称为向电介质吸收因子D的充电。

电介质吸收因子D并不限于被等价地表示为如图7所示那样仅是一 组串联连接的内部电阻和电介质极化电容，也可能有以将多组串联连接 的内部电阻和电介质极化电容的组并联连接的等价电路来表示的情况。 即使在这样的情况下，由于在电容器C0的充电时，流到电容器C0的电 流的时间变化不依赖于电介质吸收因子D的内部结构，所以在图7中， 为了简略化仅以一组内部电阻和电介质极化电容来等价地表示电介质 吸收因子D。

在电介质极化稳定后，流到电容器C0的电流实际上是流到绝缘电 阻R1的漏电流。因此，为了高精度地测定电容器C0的漏电流，需要在 电介质极化稳定后测定漏电流，通过测定该漏电流，能够求取绝缘电阻 R1。

图8是表示在对电容器C0施加规定电压并进行充电的情况下的流 到电容器C0的电流的时间变化的图，横轴是时间、纵轴是流到电容器 C0的电流。图8的区域X是充电电流区域、主要是对主电容C进行充 电。区域Y是电介质吸收区域，对电介质吸收因子D进行充电。区域Z 是在充分地充电了电介质吸收因子D之后的漏电流区域，在该区域测定 漏电流。

在电介质吸收区域Y中，由于为了对电介质吸收因子D进行充电 需要某种程度长的时间，所以从对电容器C0施加规定电压起，至到达 漏电流区域Z为止的时间也变长。上述的JIS C 5101-1“对电容器施加直 流电压，从大致到达该电压时起最大5分钟后进行测定”的规定，意思 是对上述电介质吸收因子D进行充电，当不在到达漏电流区域之后测定 漏电流时，不能够测定正确的电流值。

可是，这样的话，由于对每一个电容器C0进行充电花费时间，所 以着眼于该规定的后半部分的“在以短时间到达规定的漏电流值的情况 下，不需要施加5分钟的期间”，为了对应于此，提案了数种以短时间 到达漏电流区域的方法。

例如，在专利文献1中，通过分为数次进行充电，能够缩短每一次 的充电期间，并且对充电期间的每一个控制充电电压，在可能的范围内 对电容器施加高电压以实现急速充电。

非专利文献1：电气工学手册(第六版)110页、181页

专利文献1：日本专利申请公开平10-115651号公报

发明内容

本发明要解决的课题

可是，在专利文献1的方法中存在以下问题。

图9是现有的漏电流测定装置的平面图。由被测定对象的电容器 C0构成的工件以线性供料器(linear feeder)1被输送到分离供给部2。 分离供给部2将每一个工件一个一个地收纳于在圆形输送工作台3的周 围以等间隔配置的多个工件受纳孔4中。输送工作台3能够围绕其中心 轴5例如在图示的A方向上间歇地旋转，沿着输送工作台3的周缘部， 彼此隔开间隔而配置有多个充电台6和测定台7。

在多个充电台6的底面上以能够相对于在工件的两端上设置的电极 而上下移动的方式设置有两个探针(在图9中未图示)。伴随着输送工 作台3的移动，当工件收纳孔4来到充电台6的位置上时，两个探针与 工件(work)的两端电极抵接并对工件进行初始充电。