[发明专利]用于恢复和重新定时电磁耦合数据的接收机有效
申请号: | 200910133263.9 | 申请日: | 2009-04-01 |
公开(公告)号: | CN101552749A | 公开(公告)日: | 2009-10-07 |
发明(设计)人: | M·贝克;Z·杨;Q·张;T·希科;L·泰特 | 申请(专利权)人: | 英特尔公司 |
主分类号: | H04L25/02 | 分类号: | H04L25/02;G06F11/22 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 毛 力 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 恢复 重新 定时 电磁 耦合 数据 接收机 | ||
1.一种用于恢复和重新定时电磁耦合数据的集成电路,包括:
从电磁耦合器探针接收所采样的电磁信号的接收机器件,其中所述电磁耦 合器探针对来自被测器件(DUT)或被测链路(LUT)的信号电磁采样,所述接 收机器件输出与来自所述DUT或所述LUT的所述信号相对应的数字信号,并包 括:
重新定时器,接收所述经电磁采样的信号并且将所采样的信号转换成 所述数字信号;
有限状态机(FSM),响应于来自所述重新定时器的反馈信息来控制所述 重新定时器的采样时钟的相位。
2.如权利要求1所述的集成电路,其特征在于,还包括耦合到所述重新 定时器的、从所述重新定时器接收眼大小信息并且向所述有限状态机(FSM) 提供眼大小测量的管芯上观测仪器。
3.如权利要求2所述的集成电路,其特征在于,所述FSM响应于来自所 述管芯上观测仪器的所述眼大小测量而控制所述重新定时器的所述采样时钟 的相位。
4.如权利要求1所述的集成电路,其特征在于,还包括耦合到所述重新 定时器的、调节所述数字信号以向附连到所述接收机器件的逻辑分析器或分析 专用集成电路(ASIC)发送的发射机。
5.如权利要求1所述的集成电路,其特征在于,所述集成电路还包括接 收所述经电磁采样的信号并且调节所采样信号的模拟前端,其中所述模拟前端 的输出端连接到所述重新定时器的输入端。
6.如权利要求5所述的集成电路,其特征在于,所述FSM在训练相位期 间执行对所述模拟前端的自适应控制,在所述训练相位中在所述LUT上传送的 非确定性数据被从所述电磁耦合器探针提供到所述接收机器件。
7.如权利要求6所述的集成电路,其特征在于,所述FSM至少部分地基 于所述非确定性数据确定采样时钟的最佳位置。
8.一种用于恢复和重新定时电磁耦合数据的方法,包括:
从耦合到接收机电路中的被测链路(LUT)的电磁探针接收非确定性数据, 其中所述接收机电路耦合到所述电磁探针;
调整所述接收机电路的模拟前端(AFE)的至少一个第一控制设置直至来 自所述AFE的输出信号触发;
针对第一多个迭代调整至少一个第二控制设置并且在每个迭代确定与所 述非确定性数据相对应的数据眼的大小;
设置所述至少一个第一控制设置与所述输出信号触发时的设置相对应,并 且基于所确定的数据眼大小设置所述至少一个第二控制设置以完成所述接收 机电路的训练相位;以及
在对所述LUT的测试操作期间自适应地更新所述第一和第二控制设置中的 至少一个。
9.如权利要求8所述的方法,其特征在于,还包括在所述第一多个迭代 的每一个针对第二多个迭代调整至少一个第三控制设置。
10.如权利要求9所述的方法,其特征在于,所述第一控制设置、所述第 二控制设置和所述第三控制设置分别包括偏移设置、固定偏差设置和均衡设 置。
11.如权利要求8所述的方法,其特征在于,还包括确定所述接收机电路 的管芯上观测仪器中的数据眼大小,其中所述接收机电路是耦合到所述电磁探 针的集成电路。
12.如权利要求11所述的方法,其特征在于,还包括从所述管芯上观测 仪器接收状态机中的数据眼大小并且至少部分地基于所述数据眼大小控制所 述接收机电路的重新定时器的采样时钟。
13.如权利要求12所述的方法,其特征在于,还包括响应于所述采样时 钟采样所述重新定时器中的非确定性数据并且从所述接收机电路发送与所述 非确定性数据相对应的数字信号。
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