[发明专利]用于恢复和重新定时电磁耦合数据的接收机有效

专利信息
申请号: 200910133263.9 申请日: 2009-04-01
公开(公告)号: CN101552749A 公开(公告)日: 2009-10-07
发明(设计)人: M·贝克;Z·杨;Q·张;T·希科;L·泰特 申请(专利权)人: 英特尔公司
主分类号: H04L25/02 分类号: H04L25/02;G06F11/22
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 代理人: 毛 力
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 用于 恢复 重新 定时 电磁 耦合 数据 接收机
【说明书】:

技术领域

本公开涉及计算机系统,尤其涉及在探测被测器件(DUT)和被测链路(LUT) 时对电磁耦合数据的恢复和重新定时。

背景技术

对于包括半导体器件和总线的现代计算机系统,结合有逻辑/通信量跟踪 探针的验证系统/工具被用于调试和验证新的系统和板以供装运,并且还用于 快速诊断可以是设计或工艺相关的或者两者兼有的域返回问题,以便避免昂贵 的产品召回。为了支持诸如微处理器等等的速度不断加快的半导体器件的带 宽,将此类器件连接到存储器、图形和外围设备的总线上的数据率必须不断地 升级到更高的速率。出于逻辑验证的目的观测此类器件之间的交互,以便调试 这些器件并装运产品。

使用各种直接附连(direct-attached)方法完成对诸如输入/输出(I/O) 总线之类的各种数据总线的探测。示例方法包括与逻辑分析器相关联的基于电 阻的探针技术。然而,随着总线速度升级到更高的数据率,这种探测可导致被 测链路(LUT)的信号完整性问题。

发明内容

本公开的第一方面涉及一种用于恢复和重新定时电磁耦合数据的集成电 路,包括:从电磁耦合器探针接收所采样的电磁信号的接收机器件,其中所述 电磁耦合器探针对来自被测器件(DUT)或被测链路(LUT)的信号电磁采样, 所述接收机器件输出与来自所述DUT或所述LUT的所述信号相对应的数字信 号,并包括:重新定时器,接收所述经电磁采样的信号并且将所采样的信号转 换成所述数字信号;有限状态机(FSM),响应于来自所述重新定时器的反馈信 息来控制所述重新定时器的采样时钟的相位。

本公开的第二方面涉及一种用于恢复和重新定时电磁耦合数据的方法,包 括:从耦合到接收机电路中的被测链路(LUT)的电磁探针接收非确定性数据, 其中所述接收机电路耦合到所述电磁探针;调整所述接收机电路的模拟前端 (AFE)的至少一个第一控制设置直至来自所述AFE的输出信号触发;针对第 一多个迭代调整至少一个第二控制设置并且在每个迭代确定与所述非确定性 数据相对应的数据眼的大小;设置所述至少一个第一控制设置与所述输出信号 触发时的设置相对应,并且基于所确定的数据眼大小设置所述至少一个第二控 制设置以完成所述接收机电路的训练相位;以及在对所述LUT的测试操作期间 自适应地更新所述第一和第二控制设置中的至少一个。

本公开的第三方面涉及一种用于恢复和重新定时电磁耦合数据的系统,包 括:对来自被测器件(DUT)的信号电磁采样的电磁耦合器探针;以及接收机 器件,耦合到所述电磁耦合器探针的、从所述电磁耦合器探针接收所采样的电 磁信号并且输出与所采样的电磁信号相对应的数字信号,并包括:重新定时器, 接收所述经电磁采样的信号并且将所采样的信号转换成所述数字信号;有限状 态机(FSM),响应于来自所述重新定时器的反馈信息来控制所述重新定时器的 采样时钟的相位。

附图说明

图1是根据本发明的一示例实施例的、电磁耦合到LUT的数据接收机的框 图。

图2是根据本发明另一示例实施例的接收机的框图。

图3是根据本发明一个实施例的训练操作的流程图。

图4是根据本发明一示例实施例的系统的框图。

图5是根据本发明一实施例的待测试系统的框图。

具体实施方式

为了减轻探测被测器件(DUT)和被测链路(LUT)时的信号完整性问题, 可使用基于附连到LUT的电磁(EM)耦合器的探针技术。EM耦合器使用“受控 的”串扰对LUT信号采样而仅仅造成对LUT的最小干扰。接着,可以是独立集 成电路(IC)或其它专用半导体器件的接收机系统被用于恢复、增强所采样的 信号并将其转换成数字形式以从接收机系统发送。

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