[发明专利]用于测试设定/保持时间的设备和方法

说明书

相关申请的交叉引用

本申请要求2008年9月24日向韩国知识产权局提交的韩国申请第 10-2008-0093532号的优先权，该韩国申请以其整体通过引用结合于此， 如充分阐述了一样。

技术领域

本发明涉及测试设备，并且更加具体地涉及用于测试设定/保持时间 的设备和方法。

背景技术

半导体集成电路的尤其是半导体存储装置的写入操作期间的一个重 要参数是设定/保持时间。这里，只有当设定/保持时间具有适当容限时， 要写入的数据才可以根据数据选通信号“DQSB”变成居中。结果，数据 可以准确地写入半导体集成电路的存储区域内。

图1是半导体集成电路的传统数据输入设备的示意框图。在图1中， 数据输入设备1包括多个数据输入单元DIP_DQ0至DIP_DQ7和芯片外 驱动器(off-chip driver)校准单元10。全部所述多个数据输入单元 DIP_DQ0至DIP_DQ7的结构都相同。

所述多个数据输入单元DIP_DQ0至DIP_DQ7中的每一个都构造成 接收启用信号“ENDINB”、数据信号“DATA<0:7>”以及数据选通信号 “DQSB”作为输入。这里，所述多个数据输入单元DIP_DQ0至DIP_DQ7 以一对一方式和数据引脚DQ0至DQ7(未示出)连接。

芯片外驱动器校准单元10构造成校准芯片外驱动器(未示出)的输出 数据的电平。这里，芯片外驱动器校准单元10接收在多个数据输入单元 DIP_DQ0至DIP_DQ7中之一内预先获得(亦即预先提取)的数据，并 且接收数据时钟信号“DCLK”作为输入，以输出芯片外驱动器校准信号 “PU_INCD”、“PU_DECD”、“PD_INCD”和“PD_DECD”。芯片外驱 动器校准信号“PU_INCD”、“PU_DECD”、“PD_INCD”和“PD_DECD” 用于校准芯片外驱动器(未示出)的输出数据的电平。

图2是图1设备中使用的传统数据输入单元DIP_DQ6的示意框图。 在图2中，数据输入单元DIP_DQ6包括输入缓冲器21、预先提取电路单 元22以及写入驱动器23。芯片外驱动器校准单元10接收预先提取电路 单元22的输出数据作为输入。

当启用信号“ENDINB”被启用时，输入缓冲器21缓冲并输出数据 信号“DATA<6>”。预先提取电路单元22将根据数据选通信号“DQSB” 预先提取输入缓冲器21的输出数据，亦即预先提取4位，以使输出数据 居中，然后输出该输出数据。写入驱动器23驱动预先提取电路单元22 的输出数据，将该输出数据写入半导体集成电路的存储区域内。

图3是图1设备中使用的传统芯片外驱动器校准单元的示意框图。在 图3中，芯片外驱动器校准单元10包括锁存电路单元11和解码器12。

锁存电路单元11根据数据时钟信号“DCLK”锁存从预先提取电路 单元22输出的数据信号“ALGNR0B”、“ALGNF0B”、“ALGNR1B”和 “ALGNF1B”，以输出被锁存的数据信号“DIN0B”、“DIN1B”、“DIN2B” 和“DIN3B”。解码器12将锁存的数据信号“DIN0B”、“DIN1B”、“DIN2B” 和“DIN3B”解码，以输出芯片外驱动器校准信号“PU_INCD”、 “PU_DECD”、“PD_INCD”和“PD_DECD”。

考虑到半导体集成电路的芯片内的电路布置，通过考虑信号负载的建 模操作来执行用于将数据写入操作中的设定/保持容限设置到适当水平的 模拟操作，亦即执行设定/保持模拟。

然而，数据输入设备1(在图1中)是个问题。例如，数据输入设备1(图 1中)的电路配置无法执行判断关于多个数据引脚所选取的设定/保持时间 是否适用的测试。虽然半导体集成电路的数据引脚以一对一方式对应于多 个数据输入单元DIP_DQ0至DIP_DQ7，但是所述多个数据输入单元 DIP_DQ0至DIP_DQ7由于在制造过程期间和操作环境上的差异而具有 彼此不同的数据输出特性。