[发明专利]调试电路

权利要求书

1.一种调试电路，调试包含实现所希望逻辑功能的逻辑电路的LSI的功能，其特征在于：包括：

从由上述逻辑电路输出的多个时间信号或者多个状态信号中选择规定信号来进行输出的选择块；

对由上述选择块选择出的规定信号的电平和由可以从LSI外部改写的第一寄存器设定的值进行比较判别，并输出其结果的信号电平判别块；和

把由上述选择块选择的规定信号以及上述电平判别结果输出到外部的输出块，

上述逻辑电路包括：

可以从LSI外部改写的第二寄存器；和

根据上述第二寄存器的值来进行多个时间信号、多个状态信号或者多个基准信号的选择的选择电路，

上述信号电平判别块对上述第一寄存器的多个位的电平和与各个位对应的、由上述选择块选择出的规定信号的电平进行比较，根据比较结果是否完全一致来变更输出。

2.如权利要求1所述的调试电路，其特征在于：

上述选择块包括多个可以从LSI外部改写的第三寄存器，并以上述多个第三寄存器的值为基础，分别独立地选择向上述信号电平判别块输出的信号和向外部输出的信号来进行输出。

3.如权利要求1所述的调试电路，其特征在于：

上述选择块包括可以从LSI外部改写的第三寄存器，并以该第三寄存器的值为基础，进行从上述逻辑电路输出的多个时间信号或者多个状态信号的选择。

4.如权利要求1所述的调试电路，其特征在于：

上述输出块使用调试专用端子来进行输出。

5.如权利要求1所述的调试电路，其特征在于：

上述输出块包括可以从LSI外部改写的第四寄存器，

上述输出块通过对上述第四寄存器的值进行译码，来使用LSI的现有的输出端子进行输出。