[发明专利]调试电路

说明书

本申请是申请号为“200410079702.X”，申请日为2004年9月17日，发明名称为“调试电路”的申请的分案申请。

技术领域

本发明涉及一种调试电路，特别是涉及在LSI(大规模集成电路)的逻辑电路动作异常时调试LSI逻辑电路的时间(timing)的电路。

背景技术

一般来说，LSI是把非常多的电路高密度地集成，所以不仅需要在设计试制阶段保证各电路正常工作，而且还需要保证电路相互间的动作。特别是由于在通往这些电路的信号线路上不可避免地伴随着传播延迟等，所以有时会发生由于信号的时间离散(偏离)而产生动作异常的情况。

当产生异常时，需要进行调试，研究其原因并予以解决。作为现有的LSI动作异常的调试技术，根据程序顺序和从连接在LSI外部端子上的逻辑分析器等的测定器中的波形中观测得到的有限的信息推定内部的状态，判断此状态理论上在设计数据中是否适宜。

另外，还提出了这样的电路，即，把LSI内部的时间信号预先输入多个选择电路，译码从LSI外部进行寄存器设定的寄存器的值输入多个选择电路，可以从外部端子直接观测所希望的信号(例如，参照专利文献1)。

专利文献1-特开2000-259441号公报(第1-4页，图1)

但是，在上述现有的技术中，在前者时，因为必须根据少量的信息推定/假定LSI的内部状态，所以存在在LSI动作异常的原因调查中需要花费许多时间这一问题。另外，对于后者，因为把LSI内部的信号照原样输出到外部，所以存在着为了解析原因而需要很多专用的外部管脚(pin)这一问题。而且，因为在内部时间信号中高速动作的信号很多，所以为了在LSI外部观测，还存在需要与此速度相应的测量器这一问题。另外，在内部时间信号单体中还存在着不能发生用于开始解析问题的触发(trigger)这一问题。

发明内容

本发明就是为了解决上述现有这一问题而提出的，其目的在于：提供一种调试电路，该调试电路包括选择电路以及可以从LSI外部改写的寄存器，能高效率地选择逻辑电路内部的并行信号，并将其变换为串行信号，据此可以以较少的外部管脚来观测LSI内部的多个状态。

另外，本发明的目的在于：提供一种通过对选择出的逻辑电路的内部信号进行运算处理并输出数据，据此可以在解析时生成在设计阶段没有设想的时间的触发信号的调试电路。

另外，本发明的目的在于：提供一种可以检测所选择出的逻辑电路的内部高速信号的检测点，通过使该信号反转，或者变更该信号的脉冲宽度，可以比较容易地取入高速变化的信号观测的调试电路。

而且，本发明的目的在于：提供一种把选择出的逻辑电路的内部信号与由寄存器设定的值比较，通过把该结果输出到LSI外部，可以以少量的外部管脚进行LSI内部的异常数据解析的调试电路。

为了解决上述现有这一问题，本发明1所述的调试电路其特征在于：在调试包含实现所希望的逻辑功能的逻辑电路的LSI的功能的调试电路中包括：从由上述逻辑电路输出的多个时间信号或者多个状态信号中，选择输出规定的信号的选择块；从由上述逻辑电路输出的多个基准信号中选择规定的基准信号的时间生成块；把由上述选择块选择的规定信号在从上述时间生成块输出的基准信号的时刻进行并行串行变换，输出变换后的串行信号的变换块；把从上述变换块输出的串行信号输出到外部的输出块。

据此，因为可以把并行信号变换为串行信号输出，所以可以以少量的外部管脚观测非常多的LSI内部状态，不需要在LSI内部组装复杂的电路，就可以比较简单可靠地进行调试。

另外，本发明2所述的调试电路其特征在于：在本发明1所述的调试电路中，上述时间生成块包括可以从LSI外部改写的寄存器，并以上述寄存器的值为基础进行从上述逻辑电路输出的多个基准信号的选择。

据此，即使LSI在动作中也可以自由地变更上述时间生成块的输出信号，不需要在LSI内部组装复杂的电路，就可以比较简单可靠地进行调试。

本发明3所述的调试电路其特征在于：在本发明1所述的调试电路中，上述变换块和输出上述串行信号的时间同步，输出选通信号。

据此，可以容易判断串行数据的有效范围，不需要在LSI内部组装复杂的电路，就可以比较简单可靠地进行调试。

本发明4所述的调试电路其特征在于：在本发明1所述的调试电路中，上述变换块在上述串行信号前或者后，或者前以及后附加规定的基准信号来进行输出。