[发明专利]一种窗口采样控制方法及装置

权利要求书

1.一种窗口采样控制方法，其特征在于，包括：

确定单板上电后双倍速率同步动态随机存储器DDR窗口采样点；

获取所述DDR窗口采样点的温度敏感等级；

根据所述温度敏感等级与单板上电前记录的温度进行比较，匹配到满足 温差条件的DDR窗口采样点；

将通过所述满足温差条件的DDR窗口采样点的数据输入到DDR控制器。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

获取满足温差条件的DDR窗口采样点的数据流量的错误概率；

若所述数据流量的错误概率满足预设条件，则中断数据流量，并按照DDR 温度及窗口采样点的关系重新调整DDR窗口采样点；

所述将通过所述满足温差条件的DDR窗口采样点的数据输入到DDR控 制器具体为：将通过调整后DDR窗口采样点的数据输入到DDR控制器。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述确定单板上电后 DDR窗口采样点包括：

把DDR的一个时钟周期分割成至少两个相同的时间段，每个时间段包括 多个时延参数；

在单板上电后，按照DDR的时延参数配置不同的采样点；

启动网络控制器，通过流量控制的自发包测试，确定DDR窗口采样点。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述获取所述DDR窗口 采样点的温度敏感等级包括：

通过流量控制的自发包测试，对每个所述DDR窗口采样点进行自发包测 试，对温度和湿度满足要求的DDR窗口采样点进行分析，得到满足要求的 DDR窗口采样点的温度敏感等级。

5.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述满足温差条件包 括：上电后单板上DDR窗口采样点的温度与上电前单板上该DDR窗口采样 点的温度相同或温差在5摄氏度内。

6.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述错误概率满足预设条 件具体包括：错包概率大于0.1％或者温差大于10摄氏度。

7.一种窗口采样控制装置，其特征在于，包括：

确定单元，用于确定单板上电后双倍速率同步动态随机存储器DDR窗口 采样点；

获取单元，用于获取确定单元确定的DDR窗口采样点的温度敏感等级；

匹配单元，用于根据获取单元获取的温度敏感等级与单板上电前记录的 温度进行比较，匹配到满足温差条件的DDR窗口采样点；

控制单元，用于控制匹配单元匹配到的DDR窗口采样点的数据输入到 DDR控制器。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

错误概率获取单元，用于获取匹配单元匹配到满足温差条件的DDR窗口 采样点的数据流量的错误概率；

判断单元，用于判断所述错误概率获取单元获取的数据流量的错误概率 是否满足预设条件，并发送判断结果；

调整单元，用于在接收到判断单元发送满足预设条件的判断结果时，中 断所述DDR窗口采样点的数据流量，并按照DDR温度及窗口采样点的关系 重新调整DDR窗口采样点；

通知单元，用于将调整后DDR窗口采样点通知所述控制单元；

所述控制单元，还用于将通过调整后DDR窗口采样点的数据输入到DDR 控制器。

9.根据权利要求7或8所述的装置，其特征在于，所述确定单元包括：

划分单元，用于把DDR的一个时钟周期分割成至少两个相同的时间段， 每个时间段包括多个时延参数；

配置单元，用于在单板上电后，按照划分单元划分后的DDR的时延参数 配置不同的采样点；

采样确定单元，用于启动网络控制器，对配置单元配置的采样点通过流 量控制的自发包测试，确定DDR窗口采样点。