[发明专利]一种窗口采样控制方法及装置有效
申请号: | 200910140491.9 | 申请日: | 2009-05-19 |
公开(公告)号: | CN101567767A | 公开(公告)日: | 2009-10-28 |
发明(设计)人: | 胡卫江;张献功 | 申请(专利权)人: | 华为技术有限公司 |
主分类号: | H04L1/16 | 分类号: | H04L1/16;H04L1/00;H04L12/26;H04L12/56 |
代理公司: | 深圳市深佳知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人: | 彭愿洁;李文红 |
地址: | 518129广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 窗口 采样 控制 方法 装置 | ||
技术领域
本发明涉及网络通信技术领域,特别是涉及一种窗口采样控制方法及装 置。
背景技术
随着通信网络技术的发展,网络对路由器的转发性能、服务质量(QOS, Quality of Service)要求越来越高,大容量的包缓存器件应用也越来越多。目 前,网络处理器(NP,Network Processor)、流量管理(TM,由网络运行的 一组动作和操作,以保证网络的可运行性,TM是以通信流量控制形式进行) 以及用于处理包转发的双倍速率同步动态随机存储器(DDR,Double Data Rate-synchronous dynamic random access memory)的内存一般都在100M以上。 随着80G、100G等NP或TM的应用,外挂存储器件容量也直线上升。于此 同时,在外挂存储器件容量上升的同时,如何保证TM、NP与外挂的DDR 之间的接口访问稳定可靠的问题等,特别是在设备温度、湿度变化时候,如 何保证NP与DDR的稳定运行是非常重要的。
在现有技术中,温度自适应的DDR窗口采样控制方法主要包括,(1)在 研发阶段根据不同的DDR固定好对应的硬件参数;(2)在设备启动后,通过 遍历硬件参数,找到某系列最大和最小适合参数后,补偿其中间值作为设备 运行的参数。其具体的过程为:
先分析每片DDR器件的采样窗口位置,根据实验的DDR器件温度敏感 曲线,来判断该DDR器件的温度敏感度;根据判断的结果,还原系统的温度 状态,实现更为精确的采样补偿;同时启动定时的采样监控机制,在系统出 现错误时根据温变进行快速恢复,从而保证系统处于恶烈的环境下时,也能 稳定的运行。
在设备启动后,进行DDR的采样点的扫描,找到某系列最大和最小适合 参数后,进行简单折中处理后,将处理后的参数作为DDR控制器的运行参数; 同时通过整机风扇来控制温度。但是,设备启动时找到DDR控制器的运算参 数是最适合当前环境条件的,而不一定适合单板业务切换后的设备运行环境; 通过风扇的风速来调整温度,整机监控对于单板本身就要较大的误差,不能 真实反应芯片的实际温度。
再说,对于不同类型DDR,或者温度敏感度较高的DDR,在实际运行过 程中,不能准确的得到采样数据。在DDR异常错误下,不能快速纠正并恢复 业务,而造成事故或单板不必要的返修等,比如如果出现运行中的包存储错 误,只能告警换单板或者器件复位,或者进行重新初始化等策略。
在对现有技术的研究和实践过程中,本发明的发明人发现,现有的实现 方式中,在温度发生变化导致窗口偏移时,不能准确的采样到可靠的采样数 据。
发明内容
本发明实施例提供一种窗口采样控制方法及装置,在温度发生变化导致 窗口偏移时时,能根据当前的温度重新调整DDR窗口,保证DDR窗口采样 到可靠的数据。
为解决上述技术问题,本发明实施例提供一种窗口采样控制方法,所述 方法包括:
确定单板上电后双倍速率同步动态随机存储器DDR窗口采样点;
获取所述DDR窗口采样点的温度敏感等级;
根据所述温度敏感等级与单板上电前记录的温度进行比较,匹配到满足 温差条件的DDR窗口采样点;
将通过所述满足温差条件的DDR窗口采样点的数据输入到DDR控制器。
相应地,本发明实施例还提供一种窗口采样控制装置,包括:
确定单元,用于确定单板上电后双倍速率同步动态随机存储器DDR窗口 采样点;
获取单元,用于获取确定单元确定的DDR窗口采样点的温度敏感等级;
匹配单元,用于根据获取单元获取的温度敏感等级与单板上电前记录的 温度进行比较,匹配到满足温差条件的DDR窗口采样点;
控制单元,用于控制匹配单元匹配到的DDR窗口采样点的数据输入到 DDR控制器。
由上述技术方案可知,本发明实施例确定DDR窗口采样点,并获取DDR 窗口采样点的温度敏感等级,根据该温度敏感级别,得到上电后单板的温度, 并将上电后的温度与上电前的温度进行比较,匹配到满足温差条件的DDR窗 口采样点,并将通过DDR窗口采样点的数据输入到DDR控制器。由此可见, 本发明实施例所述方案在温度发生变化导致窗口偏移时,能根据当前的温度 重新调整DDR窗口,保证DDR窗口采样到可靠的数据。
附图说明
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