[发明专利]坐标位置检测设备的制造方法

说明书

相关申请的交叉引用

本专利申请基于并请求2008年5月19日提交的日本专利申请No. 2008-130857的优先权，该申请的全部内容通过引用结合在本申请中。

技术领域

本发明一般地涉及一种坐标位置检测设备的制造方法。

背景技术

触摸屏例如已经用作计算机系统的输入设备。触摸屏设置在显示 器上，构成为检测显示器上的坐标位置并得到与坐标位置相对应的检 测信号。在触摸屏上可以进行直接输入，从而可以容易和直观地进行 输入。

对于触摸屏，已经提出电阻膜类型、光学类型和电容耦合类型等 各种类型。一般将具有简单结构和简单控制系统的电阻膜类型用于触 摸屏。取决于电阻膜上的电极的配置，有4线型、5线型、8线型和其 它低电阻触摸屏。

在5线型电阻膜触摸屏中，与4线型或8线型电阻膜触摸屏相比， 配置在操作面侧的上部板的导电膜专用于电位读取。因此，5线型触 摸屏没有作为4线型或8线型电阻膜触摸屏的问题之一的边缘滑动问 题。为此，5线型触摸屏被用于较差的服务条件或需要长的耐久期间 的情况。

图1是示出5线电阻膜触摸屏的结构的图。

图1所示的5线电阻膜触摸屏1包括上部板11和下部板12。透 明电阻膜22形成在下部板12的玻璃基板21的整个面上。X轴坐标检 测电极23和24以及Y轴坐标检测电极25和26形成在透明电阻膜22 上。透明电阻膜32形成在上部板11的膜板31上。坐标检测电极33 形成在透明电阻膜32上。

首先，通过向X轴坐标检测电极23和24施加电压，在下部板12 的透明电阻膜22的X轴方向上产生电位分布。此时，检测出下部板 12的透明电阻膜22的电位，从而可以检测出上部板11与下部板12 接触的位置的X坐标。

接着，通过向Y轴坐标检测电极25和26施加电压，在下部板12 的透明电阻膜22的Y轴方向上产生电位分布。此时，检测出下部板 12的透明电阻膜22的电位，从而可以检测出上部板11与下部板12 接触的位置的Y坐标。

在上述触摸屏中，存在在下部板12的透明电阻膜22上均匀地产 生电位分布的问题。为了使下部板12的透明电阻膜22上的电位分布 均匀，例如在日本公开专利申请No.10-83251中公开了在周围在多级 上设置电位分布校正图案的方法。

另外，在日本公开专利申请No.2001-125724中公开了设置共用电 极来包围输入屏幕的周围的方法。

而且，在日本公开专利申请No.2007-25904中公开了在形成在透 明电阻膜上的绝缘膜上设置开口部分并且从该开口部分提供电位的方 法。

由于设置有坐标输入设备的装置的小型化，要求坐标输入设备具 有窄的框架。

但是，在日本公开专利申请No.10-83251中公开的坐标输入设备 中，需要在周围在多级上设置电位分布图案。因此，难以使坐标输入 设备的框架窄。

而且，在日本公开专利申请No.2001-125724中公开的方法中，设 置共用电极来包围输入屏幕的周围，如果透明电阻膜与图案电阻的电 阻比不大，则透明电阻膜的电位分布不均匀。

另外，在日本公开专利申请No.2007-25904中公开的方法中，在 绝缘膜上设置开口部分，尽管可以解决上述两个问题，但制造工艺可 能复杂。因此，由于材料或制造上的电阻值的不均匀，具有良好性能 的产品的产出可能降低。

发明内容

因此，本发明的实施方式可以提供一种解决上述一个或多个问题 的新的、有用的坐标位置检测设备的制造方法。

更具体地，本发明的实施方式可以提供一种坐标位置检测设备的 制造方法，从而能够以高的生产率制造具有窄框架和提高的坐标位置 检测精度的坐标位置检测设备。

本发明的一个方面可以提供一种坐标位置检测设备的制造方法， 该坐标位置检测设备包括：

形成在基板上的电阻膜；和

构成为向该电阻膜施加电压的共用电极，

其中，通过从所述共用电极向所述电阻膜提供电位，在所述电阻 膜上产生电位分布，检测出所述电阻膜被接触的位置的电位，从而检 测出所述电阻膜的接触位置的坐标，

所述坐标位置检测设备的制造方法包括以下步骤：

在具有矩形结构的基板的四个边的电阻膜上形成共用电极；