[发明专利]半导体器件有效

专利信息
申请号: 200910141718.1 申请日: 2005-03-09
公开(公告)号: CN101615619A 公开(公告)日: 2009-12-30
发明(设计)人: 山崎舜平;荒尾达也 申请(专利权)人: 株式会社半导体能源研究所
主分类号: H01L27/13 分类号: H01L27/13;H01Q23/00;H01Q1/38;G06K19/077
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 秦 晨
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 半导体器件
【权利要求书】:

1.一种半导体器件,包括:

挠性衬底,包含纸或塑料衬底,

集成电路,

具有导线的天线,和

与所述导线的一侧接触的绝缘膜,

其中,所述集成电路和所述天线形成在所述挠性衬底上方以便相 互电连接,以及

所述绝缘膜包含选自由聚酰亚胺,环氧树脂,丙烯和聚酰胺构成 的组中的有机树脂。

2.根据权利要求1的半导体器件,其中,软磁材料的微粒包含 在所述绝缘膜中。

3.根据权利要求1的半导体器件,其中,所述集成电路包括薄 膜晶体管。

4.一种半导体器件,包括:

挠性衬底,包含纸或塑料衬底,

集成电路,

具有导线的天线,和

与所述导线的一侧接触的绝缘膜,

其中,所述集成电路和所述天线形成在所述挠性衬底上方以便相 互电连接,

覆盖材料形成在所述集成电路和所述天线的上方,以及

所述绝缘膜包含选自由聚酰亚胺,环氧树脂,丙烯和聚酰胺构成 的组中的有机树脂。

5.根据权利要求4的半导体器件,其中,软磁材料的微粒包含 在所述绝缘膜中。

6.根据权利要求4的半导体器件,其中,所述集成电路包括薄 膜晶体管。

7.一种半导体器件,包括:

挠性衬底,包含纸或塑料衬底,

集成电路,

具有导线的天线,和

与所述导线的一侧接触的第一绝缘膜,

其中,粘合剂形成在所述挠性衬底上方,

第二绝缘膜形成在所述粘合剂上方,

所述集成电路和所述天线形成在所述第二绝缘膜上方以便相互 电连接,以及

所述第一绝缘膜包含选自由聚酰亚胺,环氧树脂,丙烯和聚酰些 构成的组中的有机树脂。

8.根据权利要求7的半导体器件,其中,所述第一绝缘膜中包 含软磁材料的微粒。

9.根据权利要求8的半导体器件,其中,所述软磁材料是Fe; Co;Ni;至少包含Fe,Co,和Ni中之一的合金。

10.根据权利要求8的半导体器件,其中,所述软磁材料是 3Y2O3·5Fe2O3(YIG);Fe2O3;Fe-Si-Al合金;Fe-Cr合金;FeP合 金;Ni或Ni-Fe合金被添加了Mo,Cu,Cr和Nb中至少之一的坡莫 合金。

11.根据权利要求8的半导体器件,其中,所述软磁材料是软铁 氧体。

12.根据权利要求11的半导体器件,其中,所述软铁氧体是 Mn-Zn铁氧体。

13.根据权利要求7的半导体器件,其中,所述集成电路包括薄 膜晶体管。

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