[发明专利]检测处理器资源的架构易损性

权利要求书

1.一种用于检测处理器资源的架构易损性的装置，包括：

多个计数器，所述多个计数器的每个为处理器的存储单元维护时间 片期间的利用值；

第二计数器，对所述时间片期间由所述处理器的预测单元作出的错 误预测的数量进行计数；以及

第一逻辑单元，至少部分地基于包括所述利用值的第一组利用值和 所述错误预测的数量来为所述处理器的至少第一部分确定对于所述时间 片的易损性测量。

2.根据权利要求1所述的装置，还包括第二逻辑单元，所述第二逻 辑单元至少部分地基于第二组利用值和所述错误预测的数量来为所述处 理器的第二部分确定对于所述时间片的易损性测量。

3.根据权利要求2所述的装置，其中所述处理器的所述至少第一部 分对应所述处理器的前端单元，而所述处理器的所述第二部分对应所述 处理器的后端单元。

4.根据权利要求1所述的装置，其中所述第一逻辑单元用于接收所 述第一组利用值并根据具有多个项的线性方程确定所述易损性测量，所 述多个项的每一项都包括系数和所述第一组利用值之一。

5.根据权利要求4所述的装置，还包括第二逻辑单元以接收所述易 损性测量并基于所述易损性测量来生成控制所述处理器的至少一个错误 缓解单元的控制信号。

6.根据权利要求5所述的装置，其中如果所述易损性测量大于第一 阈值则所述第二逻辑单元将启用所述至少一个错误缓解单元的错误检测 机制，并且如果所述易损性测量大于第二阈值则所述第二逻辑单元将启 用所述至少一个错误缓解单元的错误校正机制。

7.根据权利要求5所述的装置，其中所述第二逻辑单元用于接收多 个易损性测量并基于所述多个易损性测量生成所述控制信号，所述多个 易损性测量的每个对应多个时间片之一。

8.根据权利要求5所述的装置，其中如果所述易损性测量低于第一 阈值则所述第二逻辑单元将禁用所述至少一个错误缓解单元，并且其中 所述至少一个错误缓解单元当被所述第二逻辑单元禁用时将配置成执行 非错误缓解任务。

9.根据权利要求5所述的装置，其中所述第二逻辑单元用于动态控 制所述至少一个错误缓解单元，在程序的第一部分期间基于第一多个时 间片的易损性测量启用以及基于第二多个时间片的易损性测量禁用所述 至少一个错误缓解单元。

10.根据权利要求1所述的装置，其中所述装置包括处理器并且还 包括包含所述多个计数器、所述第二计数器和所述第一逻辑单元的检测 器，其中所述检测器与所述处理器的第一部分相关联。

11.根据权利要求10所述的装置，其中所述检测器的多个计数器的 至少一个与所述处理器的第二部分中的结构相关联。

12.一种用于检测处理器资源的架构易损性的方法，包括：

使用处理器度量值为处理器的至少一部分确定对于时间片的量化架 构易损性因子Q-AVF值，所述处理器度量值对应于在所述时间片期间利 用的处理器资源的计数；

将所述Q-AVF值与至少一个阈值进行比较；以及

基于所述比较动态地控制所述处理器的至少一个错误缓解单元。

13.根据权利要求12所述的方法，还包括根据具有多个项的线性方 程确定所述Q-AVF值，所述多个项的每一项对应于处理器度量值和权重 值。

14.根据权利要求13所述的方法，其中所述处理器度量值的每个对 应于关于所述处理器的多个前端结构之一的利用值。

15.根据权利要求14所述的方法，其中第一利用值对应于关于所述 时间片的每个周期的结构中有效条目的数量。

16.根据权利要求15所述的方法，还包括通过将有效条目的数量移 位对应于所述时间片的对数值来确定所述第一利用值。