[发明专利]半导体集成电路有效
申请号: | 200910142731.9 | 申请日: | 2005-07-26 |
公开(公告)号: | CN101567684A | 公开(公告)日: | 2009-10-28 |
发明(设计)人: | 炭田昌哉 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | H03K19/017 | 分类号: | H03K19/017;H03K19/20;H03K19/096 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 | 代理人: | 王茂华;于英慧 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 集成电路 | ||
1.一种半导体集成电路,其接收时钟脉冲、多个数据及用于选 择上述各数据的多个选择信号,且当上述时钟脉冲跳变时将由上述 选择信号选定的1个数据输出到保持电路,其特征在于:
上述半导体集成电路包括非选择状态检测电路,该非选择状态 检测电路检测全部上述多个选择信号都没有选择上述多个数据中的 任何一个的状态,其中,
上述非选择状态检测电路包括第三时钟端、多个信号选择端、 扫描移位控制信号接收端、反相器、栅极与上述第三时钟端相连接 的第十n型晶体管、各自的栅极分别与上述多个信号选择端和上述扫 描移位控制信号接收端相连接的多个n型晶体管、栅极与上述第三时 钟端相连接的第九p型晶体管、以及栅极与上述反相器的输出端相连 接的第十一p型晶体管,
上述第九p型晶体管的源极与电源电压端连接,
上述第十一p型晶体管的源极与电源电压端连接,
上述第十n型晶体管的漏极与上述多个n型晶体管的源极的每一 个串联连接,上述第十n型晶体管的源极与接地端连接,上述多个n 型晶体管的漏极的每一个与上述第九p型晶体管的漏极、上述第十一 p型晶体管的漏极以及上述反相器的输入端连接在一起,
当上述非选择状态检测电路检测到全部上述多个选择信号都没 有选择上述多个数据中的任何一个的状态时,防止上次所选定的数 据发生变化来保持上述保持电路的输出数据。
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