[发明专利]半导体集成电路有效

专利信息
申请号: 200910142731.9 申请日: 2005-07-26
公开(公告)号: CN101567684A 公开(公告)日: 2009-10-28
发明(设计)人: 炭田昌哉 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: H03K19/017 分类号: H03K19/017;H03K19/20;H03K19/096
代理公司: 北京市金杜律师事务所 代理人: 王茂华;于英慧
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 半导体 集成电路
【权利要求书】:

1.一种半导体集成电路,其接收时钟脉冲、多个数据及用于选 择上述各数据的多个选择信号,且当上述时钟脉冲跳变时将由上述 选择信号选定的1个数据输出到保持电路,其特征在于:

上述半导体集成电路包括非选择状态检测电路,该非选择状态 检测电路检测全部上述多个选择信号都没有选择上述多个数据中的 任何一个的状态,其中,

上述非选择状态检测电路包括第三时钟端、多个信号选择端、 扫描移位控制信号接收端、反相器、栅极与上述第三时钟端相连接 的第十n型晶体管、各自的栅极分别与上述多个信号选择端和上述扫 描移位控制信号接收端相连接的多个n型晶体管、栅极与上述第三时 钟端相连接的第九p型晶体管、以及栅极与上述反相器的输出端相连 接的第十一p型晶体管,

上述第九p型晶体管的源极与电源电压端连接,

上述第十一p型晶体管的源极与电源电压端连接,

上述第十n型晶体管的漏极与上述多个n型晶体管的源极的每一 个串联连接,上述第十n型晶体管的源极与接地端连接,上述多个n 型晶体管的漏极的每一个与上述第九p型晶体管的漏极、上述第十一 p型晶体管的漏极以及上述反相器的输入端连接在一起,

当上述非选择状态检测电路检测到全部上述多个选择信号都没 有选择上述多个数据中的任何一个的状态时,防止上次所选定的数 据发生变化来保持上述保持电路的输出数据。

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