[发明专利]方位检测装置和雷达装置有效

专利信息
申请号: 200910146042.5 申请日: 2009-06-10
公开(公告)号: CN101604016A 公开(公告)日: 2009-12-16
发明(设计)人: 安藤隆雅 申请(专利权)人: 株式会社电装
主分类号: G01S7/02 分类号: G01S7/02;G01S13/06;G01S13/58;G01S13/88;G01S13/93;H01Q21/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人: 潘士霖;李春晖
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 方位 检测 装置 雷达
【权利要求书】:

1.一种方位检测装置,包括:

发射机,发射连续波;

接收机,包括以预定间隔d设置的多个天线元件,所述天线元件中的 每一个均被配置为一旦接收到所述连续波被目标反射产生的反射连续波 则生成信号;

第一信号发生器,基于由所述接收机的所述天线元件生成的信号产生 第一信号,所述第一信号相当于由以第一间隔d1布置的多个天线元件生 成的信号,其中,d1是d的整数倍;

第二信号发生器,基于由所述接收机的所述天线元件生成的信号产生 第二信号,所述第二信号相当于由以第二间隔d2布置的多个天线元件生 成的信号,其中,d2是d的整数倍且大于d1;

第一方位检测器,在其角范围由d1限定的第一方位检测区域内,基 于由所述第一信号发生器产生的所述第一信号检测所述目标的方位;以及

第二方位检测器,在其角范围由d2限定的第二方位检测区域内,基 于由所述第二信号发生器产生的所述第二信号检测所述目标的方位,

其中,在所述接收机的所述天线元件的阵列中,位于所述阵列一端的 m个相邻天线元件一起构成子阵列天线,其中,m为大于或等于2的整 数,

所述子阵列天线直接以模拟形式合成由所述m个相邻天线元件生成 的信号以产生合成信号,

所述第二信号发生器将由所述子阵列天线产生的所述合成信号转换 成构成所述第二信号之一的数字信号,

所述第二信号发生器还将由除构成所述子阵列天线的所述m个相邻 天线元件之外的所述接收机的天线元件生成的信号转换为数字信号,并且 对每m个所述数字信号进行合成以产生所述第二信号之一,

d1=d,以及

除构成所述子阵列天线的所述m个相邻天线元件之外的所述接收机 的天线元件中的每一个均构成所述第一信号发生器的一部分,以将由其本 身生成的信号作为所述第一信号之一输出。

2.根据权利要求1所述的方位检测装置,其中,m=2,并且d2=2 ×d。

3.一种雷达装置,包括:

发射机,发射连续波;

接收机,包括以预定间隔d布置的多个天线元件,所述天线元件中的 每一个均被配置为一旦接收到所述连续波被目标反射产生的反射连续波 则生成信号;

第一信号发生器,基于由所述接收机的所述天线元件生成的信号产生 第一信号,所述第一信号相当于由以第一间隔d1布置的多个天线元件生 成的信号,其中,d1是d的整数倍;

第二信号发生器,基于由所述接收机的所述天线元件生成的信号产生 第二信号,所述第二信号相当于由以第二间隔d2布置的多个天线元件生 成的信号,其中,d2是d的整数倍且大于d1;

第一方位检测器,在其角范围由d1限定的第一方位检测区域内,基 于由所述第一信号发生器产生的所述第一信号检测所述目标的方位;

第二方位检测器,在其角范围由d2限定的第二方位检测区域内,基 于由所述第二信号发生器产生的所述第二信号检测所述目标的方位;

第一距离检测器,基于由所述第一信号发生器产生的所述第一信号检 测所述目标的距离;

第二距离检测器,基于由所述第二信号发生器产生的所述第二信号检 测所述目标的距离;以及

目标识别器,基于由所述第一方位检测器和所述第二方位检测器之一 检测的所述目标的方位以及由所述第一距离检测器和所述第二距离检测 器之一检测的所述目标的距离来识别所述目标,

其中,在所述接收机的所述天线元件的阵列中,位于所述阵列一端的 m个相邻天线元件一起构成子阵列天线,其中,m为大于或等于2的整 数,

所述子阵列天线直接以模拟形式合成由所述m个相邻天线元件生成 的信号以产生合成信号,

所述第二信号发生器将由所述子阵列天线产生的所述合成信号转换 成构成所述第二信号之一的数字信号,

所述第二信号发生器还将由除构成所述子阵列天线的所述m个相邻 天线元件之外的所述接收机的天线元件生成的信号转换为数字信号,并且 对每m个所述数字信号进行合成以产生所述第二信号之一,

d1=d,以及

除构成所述子阵列天线的所述m个相邻天线元件之外的所述接收机 的天线元件中的每一个均构成所述第一信号发生器的一部分,以将由其本 身生成的信号作为所述第一信号之一输出。

4.根据权利要求3所述的雷达装置,其中,m=2,并且d2=2×d。

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