[发明专利]处理基板用的真空腔室及包含该真空腔室的设备有效
申请号: | 200910148064.5 | 申请日: | 2009-06-24 |
公开(公告)号: | CN101615571A | 公开(公告)日: | 2009-12-30 |
发明(设计)人: | 崔贤范;车安基 | 申请(专利权)人: | 周星工程股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/00 | 分类号: | H01L21/00;H01L21/20;H01L21/3065;H01L21/31;H01L21/311 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 李树明 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 处理 基板用 空腔 包含 设备 | ||
【技术领域】
本发明是关于一种用于处理基板的真空腔室,特别是关于一种具有腔 室盖的真空腔室及包含该真空腔室的设备。
【背景技术】
一般而言,半导体装置(例如平面显示装置及太阳能电池)的处理包 含重复以下步骤:沉积薄膜;图案化光阻(PR)层的光微影步骤;及蚀刻 图案的薄膜。沉积步骤及蚀刻步骤可在具有与外部分开的反应空间的设备 的腔室内施行,例如可将包含承载(load-lock)腔室、传送腔室、及处理 腔室的群集型(cluster type)设备用于沉积步骤及蚀刻步骤,传送腔室 及处理腔室在沉积步骤及蚀刻步骤期间可具有真空状态。特别是,由于基 板是由具有大气状态的外部输入至承载腔室内,且基板是由承载腔室传送 至具有真空状态的传送腔室,故承载腔室可交替地具有大气状态及真空状 态。
图1为显示根据相关技艺的群集型设备的图式。
在图1中,群集型设备10包含基板装载器/卸载器18、承载腔室12、 传送腔室14及数个处理腔室16。将数个基板20输入至基板装载器/卸载器 18内以用于处理,且在处理完成后将数个基板20自基板装载器/卸载器18 输出。承载腔室12被设置于基板装载器/卸载器18与传送腔室14之间, 因此,数个基板20自基板装载器/卸载器18经由承载腔室12而被运送至 传送腔室14。基板装载器/卸载器18包含第一机器人24,其是用以将数个 基板20自基板装载器/卸载器18运送至承载腔室12;而传送腔室14包含 第二机器人22,其是用以将数个基板20自承载腔室12运送至数个处理腔 室16。
图2为显示根据相关技艺的群集型设备的承载腔室的展开透视图。
在图2中,承载腔室12包含腔室本体28及腔室盖29,腔室本体28 包含第一至第四侧壁30,32,34及36,第一及第二侧壁30及32分别具有 用于基板传送的第一及第二狭槽阀31及33,而第三及第四侧壁34及35则 位于第一及第二侧壁30及32之间。结果,(图1的)基板20自(图1的) 基板装载器/卸载器18经由第一狭槽阀31而被输入至承载腔室12,且基板 20自承载腔室12经由第二狭槽阀33而被输出至(图1的)传送腔室14。 第三及第四侧壁34及36中的每一者皆具有观察口38,其是用以检查承载 腔室12的内侧;可打开观察口38以进行检查,且其可于检查后关闭。腔 室本体28及腔室盖29可由金属材料例如铝(Al)所形成。
再者,可将扩散器40形成于第三及第四侧壁34及36其中一者上,而 真空状态的承载腔室12是借由透过扩散器40所注入的气体加以通气以具 有大气状态,举例而言,可透过扩散器40而使氮气(N2)扩散进入承载腔 室12;将真空泵(未图示)连接至承载腔室12以获得真空状态。此外,将 彼此隔开的数个基板支台42形成于承载腔室12中。将基板20装载于数个 基板支台42上,并将传送腔室14的第二机器人22的手臂嵌入至基板支台 42之间的空间内。因此,利用第二机器人22,基板20即自承载腔室12经 由第二狭槽阀33而被运送至传送腔室14。数个基板支台42可包含用以加 热基板20的加热装置(未图示)。
对承载腔室12进行抽气,以由大气状态转换至真空状态;对其进行通 气,以由真空状态转换至大气状态。如此,对于承载腔室12重复地施行抽 气及通气;此外,加热基板20以便具有承载腔室12中的处理温度。由于 承载腔室12是由具有相对低强度的金属材料(例如铝(Al))所形成,故 承载腔室12的腔室本体28及腔室盖29可能因为在一相对高温度下重复抽 气及通气而变形,结果造成承载腔室12的使用寿命缩短。
【发明内容】
因此,本发明是针对处理基板用的真空腔室及包含该真空腔室的设备, 其实质上消除了由于相关技艺的限制及缺点所致的一个以上问题。
本发明的一目的为提供可防止因强度提升所致的变形的真空腔室。
本发明的另一目的为提供真空腔室的腔室盖,其包含框架及数个平板。
本发明的另一目的为提供真空腔室的腔室盖,其包含冷却用的流动通 道。
本发明的一种处理基板用的真空腔室包含:腔室本体;及腔室盖,与 该腔室本体相结合,其中该腔室盖包含:框架,具有数个开口;及数个平 板,与该数个开口相结合,该数个平板中的每一者皆具有比该框架更高的 导热性。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造