[发明专利]非易失性半导体存储电路有效

专利信息
申请号: 200910167401.5 申请日: 2009-08-12
公开(公告)号: CN101650971A 公开(公告)日: 2010-02-17
发明(设计)人: 津村和宏 申请(专利权)人: 精工电子有限公司
主分类号: G11C16/02 分类号: G11C16/02;G11C14/00;G11C11/41
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 朱海煜;王丹昕
地址: 日本千叶*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 非易失性 半导体 存储 电路
【权利要求书】:

1.一种非易失性半导体存储电路,包括:

非易失性存储单元,其采用其中阈值电压为低的擦除状态和其中 阈值电压为高的写入状态中之一从而存储数据;

与所述非易失性存储单元串联的恒流电路;以及

所述非易失性存储单元和所述恒流电路之间的连接点,其设置成 输出端;

其中,在读取模式和保持模式中,其中电压施加到所述非易失性 存储单元,其满足下列关系:

IWRITE<ICONST<IERASE

其中流过处于所述擦除状态的所述非易失性存储单元的饱和电 流用IERASE表示,流过处于所述写入状态的所述非易失性存储单元的 饱和电流用IWRITE表示,并且从所述恒流电路提供的恒定电流用ICONST表示,

其中在所述读取模式和所述保持模式中的一个中:

在所述非易失性存储单元处于所述擦除状态的情况下,使施加在 所述非易失性存储单元的源极和漏极之间的电压接近0V,从而防止 在处于所述擦除状态的所述非易失性存储单元中写入;以及

在所述非易失性存储单元处于所述写入状态的情况下,使施加在 所述非易失性存储单元的所述源极和所述漏极之间的电压接近比另 一个电源电压高的电源电压,从而允许由热电子在处于所述写入状态 的所述非易失性存储单元中写入。

2.如权利要求1所述的非易失性半导体存储电路,还包括:

在所述读取模式和所述保持模式中使用的电源线路;

与所述电源线路分开提供的并且在所述非易失性存储单元的数 据重写中使用的另一个电源线路;以及

在所述输出端和所述非易失性存储单元的数据重写中使用的所 述另一个电源线路之间提供的晶体管;

其中所述晶体管在所述非易失性存储单元的数据重写时进入导 通状态。

3.如权利要求1所述的非易失性半导体存储电路,其中所述恒 定电流恒定地流过用串联的所述恒流电路和所述非易失性存储单元 构成的电路同时电源电压施加到所述电路。

4.如权利要求1所述的非易失性半导体存储电路,其中所述恒 流电路包括处于饱和操作状态的MOS晶体管。

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