[发明专利]非易失性半导体存储电路有效
申请号: | 200910167401.5 | 申请日: | 2009-08-12 |
公开(公告)号: | CN101650971A | 公开(公告)日: | 2010-02-17 |
发明(设计)人: | 津村和宏 | 申请(专利权)人: | 精工电子有限公司 |
主分类号: | G11C16/02 | 分类号: | G11C16/02;G11C14/00;G11C11/41 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 朱海煜;王丹昕 |
地址: | 日本千叶*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 非易失性 半导体 存储 电路 | ||
1.一种非易失性半导体存储电路,包括:
非易失性存储单元,其采用其中阈值电压为低的擦除状态和其中 阈值电压为高的写入状态中之一从而存储数据;
与所述非易失性存储单元串联的恒流电路;以及
所述非易失性存储单元和所述恒流电路之间的连接点,其设置成 输出端;
其中,在读取模式和保持模式中,其中电压施加到所述非易失性 存储单元,其满足下列关系:
IWRITE<ICONST<IERASE,
其中流过处于所述擦除状态的所述非易失性存储单元的饱和电 流用IERASE表示,流过处于所述写入状态的所述非易失性存储单元的 饱和电流用IWRITE表示,并且从所述恒流电路提供的恒定电流用ICONST表示,
其中在所述读取模式和所述保持模式中的一个中:
在所述非易失性存储单元处于所述擦除状态的情况下,使施加在 所述非易失性存储单元的源极和漏极之间的电压接近0V,从而防止 在处于所述擦除状态的所述非易失性存储单元中写入;以及
在所述非易失性存储单元处于所述写入状态的情况下,使施加在 所述非易失性存储单元的所述源极和所述漏极之间的电压接近比另 一个电源电压高的电源电压,从而允许由热电子在处于所述写入状态 的所述非易失性存储单元中写入。
2.如权利要求1所述的非易失性半导体存储电路,还包括:
在所述读取模式和所述保持模式中使用的电源线路;
与所述电源线路分开提供的并且在所述非易失性存储单元的数 据重写中使用的另一个电源线路;以及
在所述输出端和所述非易失性存储单元的数据重写中使用的所 述另一个电源线路之间提供的晶体管;
其中所述晶体管在所述非易失性存储单元的数据重写时进入导 通状态。
3.如权利要求1所述的非易失性半导体存储电路,其中所述恒 定电流恒定地流过用串联的所述恒流电路和所述非易失性存储单元 构成的电路同时电源电压施加到所述电路。
4.如权利要求1所述的非易失性半导体存储电路,其中所述恒 流电路包括处于饱和操作状态的MOS晶体管。
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