[发明专利]用于预测存储介质故障的系统和方法有效
申请号: | 200910173666.6 | 申请日: | 2009-09-10 |
公开(公告)号: | CN101866672A | 公开(公告)日: | 2010-10-20 |
发明(设计)人: | 杨少华 | 申请(专利权)人: | LSI公司 |
主分类号: | G11B20/18 | 分类号: | G11B20/18 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 屠长存 |
地址: | 美国加*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 预测 存储 介质 故障 系统 方法 | ||
1.一种存储装置,其中所述存储装置包括:
存储介质;以及
数据处理电路,其中所述数据处理电路接收从所述存储介质得到的数据组,并且其中所述数据处理电路包括:
数据检测器电路,其中所述数据检测器电路接收所述数据组并提供检测输出;
数据解码器电路,其中所述数据解码器电路接收所述检测输出的衍生体并提供解码输出;以及
健康状况检测电路,其中所述健康状况检测电路接收通过所述数据检测器电路和所述数据解码器电路的组合处理所述数据组的次数的指示,并且其中所述健康状况检测电路至少部分地基于通过所述数据检测器电路和所述数据解码器电路的组合处理所述数据组的次数生成所述存储介质的间接健康状态。
2.根据权利要求1所述的存储装置,其中所述健康状况检测电路包括全局环计数器,所述全局环计数器在通过所述数据检测器电路和所述数据解码器电路的组合处理所述数据组时递增,并且其中通过所述数据检测器电路和所述数据解码器电路的组合处理所述数据组的次数是由所述全局环计数器提供的全局环计数值。
3.根据权利要求2所述的存储装置,其中所述存储介质的间接健康状态包括在处理多个数据组后得到的全局环计数值的平均值。
4.根据权利要求2所述的存储装置,其中所述数据检测器电路用于依次对所述数据组进行多次处理,并且其中所述健康状况检测电路包括局部环计数器,所述局部环计数器在通过所述数据解码器电路处理所述数据组时递增。
5.根据权利要求4所述的存储装置,其中所述健康状况检测电路接收通过所述数据解码器电路处理所述数据组的次数的指示,并且其中所述健康状况检测电路至少部分地基于通过所述数据解码器电路处理所述数据组的次数生成所述存储介质的间接健康状态,并且其中通过所述数据解码器电路处理所述数据组的次数是由所述局部环计数器提供的局部环计数值。
6.一种存储装置,其中所述存储装置包括:
存储介质;以及
数据处理电路,其中所述数据处理电路接收从所述存储介质得到的数据组,并且其中所述数据处理电路包括:
数据解码器电路,其中所述数据解码器电路接收所述数据组的衍生体并提供解码输出;并且其中所述数据解码器电路用于依次对所述数据组的衍生体进行多次处理;以及
健康状况检测电路,其中所述健康状况检测电路接收通过所述数据解码器电路处理所述数据组的次数的指示,并且其中所述健康状况检测电路至少部分地基于通过所述数据解码器电路处理所述数据组的次数生成所述存储介质的间接健康状态。
7.根据权利要求6所述的存储装置,其中所述健康状况检测电路包括局部环计数器,所述局部环计数器在通过所述数据解码器电路处理所述数据组时递增,并且其中通过所述数据解码器电路处理所述数据组的次数是由所述局部环计数器提供的局部环计数值。
8.根据权利要求7所述的存储装置,其中所述存储介质的间接健康状态包括在处理多个数据组之后得到的所述局部环计数值的平均值。
9.根据权利要求6所述的存储装置,其中所述数据处理电路还包括:
数据检测器电路,其中所述数据检测器电路接收所述数据组并提供检测输出,并且其中所述数据组的衍生体是所述检测输出的衍生体。
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