[发明专利]用于预测存储介质故障的系统和方法

说明书

技术领域

本发明涉及用于确定存储介质的健康状况(health)的系统和方法，尤其涉及用于间接地预测存储介质的潜在故障的系统和方法。

背景技术

典型的存储装置包括存储介质，信息存储在该存储介质中以便于将来取回。随着时间的流逝，存储装置的存储介质和/或其它电路和模块可能退化，导致可能的故障。对于硬盘驱动器来说，故障率通常被讨论为扇区故障率，可接受的故障率在e^-15以下。这种小故障率通常难以检测，并且即使可以检测，也通常需要延长的时间段进行测量。在某些情况下，这种延长的时间段使得对可能故障的判断不切实际。

因此，至少出于上述原因，在本领域中需要用于预测存储介质故障的先进的系统和方法。

发明内容

本发明涉及用于确定存储介质的健康状况的系统和方法，尤其涉及用于间接地预测存储介质的潜在故障的系统和方法。

本发明的各实施例提供了包括存储介质和数据处理电路的存储装置。该数据处理电路接收从该存储介质得到的数据组。该数据处理电路包括数据检测器电路、数据解码器电路和健康状况检测电路。数据检测器电路接收该数据组并提供检测输出。数据解码器电路接收该检测输出的衍生体(derivative)并提供解码输出。在某些情况下，检测输出的衍生体是检测输出的交叉存取(interleave)版本。健康状况检测电路接收通过数据检测器电路和数据解码器电路的组合处理数据组的次数的指示(indication)。健康状况检测电路至少部分地基于通过数据检测器电路和数据解码器电路的组合处理数据组的次数生成存储介质的间接健康状态。通过该组合进行的此组合处理可被称为全局迭代。

在上述实施例的某些例子中，健康状况检测电路包括全局环计数器，全局环计数器在通过数据检测器电路和数据解码器电路的组合处理数据组时递增。在这种情况下，通过数据检测器电路和数据解码器电路的组合处理数据组的次数是由全局环计数器提供的全局环计数值。在各种情况下，存储介质的间接健康状态(health status)包括在处理多个数据组之后得到的全局环计数值的平均值。在特定的情况下，根据下面的公式计算全局环计数值的平均值：

Global_Mean(i+1)＝Global_Mean(i)+μ(GlobalLoopCount-Global_Mean(i))

其中i表示对应于全局环计数值的时间瞬间，μ是标量值。

在上述实施例的一个或多个例子中，数据解码器电路用于依次对数据组进行多次处理。在这种情况下，健康状况检测电路可以包括局部环计数器，局部环计数器在通过数据解码器电路处理数据组时递增。在某些情况下，健康状况检测电路接收通过数据解码器电路处理数据组的次数的指示，并且健康状况检测电路至少部分地基于通过数据解码器电路处理数据组的次数生成存储介质的间接健康状态。通过数据解码器电路处理数据组的次数是由局部环计数器提供的局部环计数值。在某些情况下，存储介质的间接健康状态包括在处理多个数据组之后得到的局部环计数值的平均值。在这种情况下，可以根据下面的公式计算局部环计数值的平均值：

Local_Mean(i+1)＝Local_Mean(i)+μ(LocalLoopCount-Local_Mean(i))

其中，i表示对应于局部环计数值的时间瞬间，μ是标量值。

本发明的其它实施例提供包括存储介质和数据处理电路的存储装置。数据处理电路接收从存储介质得到的数据组。数据处理电路包括：数据解码器电路和健康状况检测电路。数据解码器电路接收该数据组的衍生体并提供解码输出。数据解码器电路用于依次对数据组的衍生体进行多次处理。健康状况检测电路接收通过数据解码器电路处理该数据组的次数的指示，并且健康状况检测电路至少部分地基于通过数据解码器电路处理数据组的次数生成存储介质的间接健康状态。在某些情况下，健康状态电路包括局部环计数器，局部环计数器在通过数据解码器电路处理数据组时递增。通过数据解码器电路处理数据组的次数是由局部环计数器提供的局部环计数值。在特定情况下，存储介质的间接健康状态包括在处理多个数字组之后获得的局部环计数值的平均值。