[发明专利]检查治具、电极构造及电极构造的制造方法有效

专利信息
申请号: 200910175078.6 申请日: 2009-09-27
公开(公告)号: CN101713790A 公开(公告)日: 2010-05-26
发明(设计)人: 沼田清 申请(专利权)人: 日本电产理德株式会社
主分类号: G01R1/073 分类号: G01R1/073
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 雒运朴;李伟
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 检查 电极 构造 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种检查治具,其特征在于,包括:

多个探针,其一端导通接触于待检查基板的检查对象的检查点,另 一端导通接触在电连接于用以检查电特性的检查装置的电极部;

保持体,其将上述探针的两端分别引导至既定的上述检查点及上述 电极部,并保持该探针;及

电极体,其包含多个上述电极部,

上述探针具有:

第1接触件,其以导电材料形成筒形形状;及

第2接触件,其以导电材料形成细长状,并以与上述第1接触件绝 缘的状态收纳于上述第1接触件的内部空间,

上述电极部具有:

第1电极部,其用以与上述第1接触件导通接触;及

第2电极部,其与上述第1电极部不电性接触,而与上述第2接触 件导通接触,

上述第1电极部与该第2电极部从俯视观察,配置为上述第1电极 部的中心与上述第2电极部的中心分离,且俯视观察的上述第1电极部 的最大宽度小于上述第1接触件的外径。

2.根据权利要求1所述的检查治具,其特征在于,上述第1电极部 从俯视观察,形成与上述第2电极部相同的尺寸且相同的形状,或形成 小于上述第2电极部的尺寸且为相似的形状。

3.如权利要求1或2所述的检查治具,其特征在于,

上述第2电极部相对于探针的径向配置在中央处,

上述第1电极部配置成:使该第1电极部与上述第2电极部的连线 对于多个探针的排列方向倾斜既定角度。

4.如权利要求3所述的检查治具,其特征在于,上述既定角度为45 度。

5.如权利要求1、2、4中任一项所述的检查治具,其特征在于,上 述第1电极部及上述第2电极部从上述电极体的表面突出而形成。

6.如权利要求1、2、4中任一项所述的检查治具,其特征在于,

上述第1电极部及上述第2电极部各包含:

线状的电极本体,其插入到设于上述电极体的贯通孔,且该电极本 体的上述待检查基板侧的端面与上述电极体的表面位于同一平面;及

突出部,其通过电镀形成在上述电极本体的上述端面,从上述电极 体的上述表面向上述待检查基板侧突起。

7.如权利要求2所述的检查治具,其特征在于,

上述第2电极部的外径小于上述第1接触件的内径,

上述第2电极部配置为相比上述第1接触件的内周位于更内侧,

上述第1电极部配置为相比上述第2接触件的外周位于更外侧,且 可与上述第1接触件的端部抵接的位置。

8.如权利要求7所述的检查治具,其特征在于,上述第2电极部配 置成使其中心与上述第2接触件的中心轴一致。

9.如权利要求7所述的检查治具,其特征在于,上述第2电极部配 置成使其中心偏离上述第2接触件的中心轴。

10.如权利要求7至9中任一项所述的检查治具,其特征在于,上述 第1电极部的外径小于上述第2电极部的外径。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于日本电产理德株式会社,未经日本电产理德株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200910175078.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top