[发明专利]EEPROM以及用于制造EEPROM的方法无效

专利信息
申请号: 200910178875.X 申请日: 2009-10-09
公开(公告)号: CN101714560A 公开(公告)日: 2010-05-26
发明(设计)人: 高光永 申请(专利权)人: 东部高科股份有限公司
主分类号: H01L27/115 分类号: H01L27/115;H01L21/8247;H01L21/28;G11C16/02
代理公司: 北京博浩百睿知识产权代理有限责任公司 11134 代理人: 宋子良;方抗美
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要:
搜索关键词: eeprom 以及 用于 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种电可擦可编程只读存储器EEPROM,包括:

隧道区,形成在半导体衬底中;

控制栅极区,形成在所述半导体衬底中并通过器件隔离层与所述隧道区分开;

隧道氧化层,形成在所述半导体衬底的沟槽中,所述沟槽位于所述隧道区与所述控制栅极区之间;以及

多晶硅层,形成在所述隧道氧化层上。

2.根据权利要求1所述的EEPROM,其中,所述多晶硅层作为浮置栅极。

3.根据权利要求1所述的EEPROM,其中,所述隧道氧化层执行充电操作。

4.一种用于制造电可擦可编程只读存储器EEPROM的方法,包括:

在半导体衬底中形成隧道区;

在所述半导体衬底中形成控制栅极区,使得所述控制栅极区通过器件隔离层与所述隧道区分开;

在所述半导体衬底中形成沟槽,所述沟槽位于所述隧道区与所述控制栅极区之间;

在所述沟槽中形成隧道氧化层;以及

在所述隧道氧化层上形成多晶硅层。

5.一种电可擦可编程只读存储器EEPROM,包括:

多个隧道区,形成在半导体衬底中;

控制栅极区,形成在所述半导体衬底中,使得所述多个隧道区包括共用的所述控制栅极区;以及

浮置多晶硅,形成在所述半导体衬底的沟槽中,所述沟槽位于各个隧道区的两侧,所述浮置多晶硅形成在全部所述多个隧道区和所述控制栅极区。

6.根据权利要求5所述的EEPROM,其中,所述浮置多晶硅由多晶硅层形式并且作为浮置栅极。

7.一种用于制造电可擦可编程只读存储器EEPROM的方法,包括:

在半导体衬底的第一型阱中形成多个隧道区;

在所述第一阱之下形成第二型深阱;

在所述多个隧道区的侧面中形成沟槽,以穿透所述第一型阱和第二型深阱;

在所述沟槽中形成浮置多晶硅;以及

通过所述第二型深阱来形成控制栅极区,以使所述多个隧道区包括共用的所述控制栅极区。

8.根据权利要求7所述的方法,其中,所述浮置多晶硅由多晶硅层形成。

9.根据权利要求7所述的方法,还包括:

在每个所述沟槽的内壁上形成隧道氧化层。

10.根据权利要求7所述的方法,其中,通过不同的掺杂剂离子的注入来形成所述第一型阱和第二型深阱。

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