[发明专利]EEPROM以及用于制造EEPROM的方法无效
申请号: | 200910178875.X | 申请日: | 2009-10-09 |
公开(公告)号: | CN101714560A | 公开(公告)日: | 2010-05-26 |
发明(设计)人: | 高光永 | 申请(专利权)人: | 东部高科股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/115 | 分类号: | H01L27/115;H01L21/8247;H01L21/28;G11C16/02 |
代理公司: | 北京博浩百睿知识产权代理有限责任公司 11134 | 代理人: | 宋子良;方抗美 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | eeprom 以及 用于 制造 方法 | ||
1.一种电可擦可编程只读存储器EEPROM,包括:
隧道区,形成在半导体衬底中;
控制栅极区,形成在所述半导体衬底中并通过器件隔离层与所述隧道区分开;
隧道氧化层,形成在所述半导体衬底的沟槽中,所述沟槽位于所述隧道区与所述控制栅极区之间;以及
多晶硅层,形成在所述隧道氧化层上。
2.根据权利要求1所述的EEPROM,其中,所述多晶硅层作为浮置栅极。
3.根据权利要求1所述的EEPROM,其中,所述隧道氧化层执行充电操作。
4.一种用于制造电可擦可编程只读存储器EEPROM的方法,包括:
在半导体衬底中形成隧道区;
在所述半导体衬底中形成控制栅极区,使得所述控制栅极区通过器件隔离层与所述隧道区分开;
在所述半导体衬底中形成沟槽,所述沟槽位于所述隧道区与所述控制栅极区之间;
在所述沟槽中形成隧道氧化层;以及
在所述隧道氧化层上形成多晶硅层。
5.一种电可擦可编程只读存储器EEPROM,包括:
多个隧道区,形成在半导体衬底中;
控制栅极区,形成在所述半导体衬底中,使得所述多个隧道区包括共用的所述控制栅极区;以及
浮置多晶硅,形成在所述半导体衬底的沟槽中,所述沟槽位于各个隧道区的两侧,所述浮置多晶硅形成在全部所述多个隧道区和所述控制栅极区。
6.根据权利要求5所述的EEPROM,其中,所述浮置多晶硅由多晶硅层形式并且作为浮置栅极。
7.一种用于制造电可擦可编程只读存储器EEPROM的方法,包括:
在半导体衬底的第一型阱中形成多个隧道区;
在所述第一阱之下形成第二型深阱;
在所述多个隧道区的侧面中形成沟槽,以穿透所述第一型阱和第二型深阱;
在所述沟槽中形成浮置多晶硅;以及
通过所述第二型深阱来形成控制栅极区,以使所述多个隧道区包括共用的所述控制栅极区。
8.根据权利要求7所述的方法,其中,所述浮置多晶硅由多晶硅层形成。
9.根据权利要求7所述的方法,还包括:
在每个所述沟槽的内壁上形成隧道氧化层。
10.根据权利要求7所述的方法,其中,通过不同的掺杂剂离子的注入来形成所述第一型阱和第二型深阱。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的