[发明专利]一种用于红外/紫外-可见光谱仪上的漫反射样品仓

权利要求书

1.一种漫反射样品仓，其特征在于包括密封圈、光学窗片、密封仓帽，仓体与密封仓帽通过螺纹连接，使仓体顶部平面与光学窗片通过密封圈压紧，光学窗片可通过弹性胶粘接于密封仓帽上，密封仓帽顶部中央竖直焊接一矩形金属薄片。

2.根据权利要求1所述的漫反射样品仓，其特征在于仓体呈倒T形，顶部中央为圆形样品槽，外围设一环形凹槽，凹槽内放置密封圈。

3.根据权利要求1或2所述的漫反射样品仓，其特征在于密封圈为一“O”型橡胶或四氟乙烯塑料圈，其直径尺寸与密封槽相匹配。

4.根据权利要求1所述的漫反射样品仓，其特征在于仓体中下部有螺纹，与密封仓帽下部之螺纹相匹配。

5.根据权利要求1或2所述的漫反射样品仓，其特征在于密封仓帽为一圆柱状螺母，顶部开口直径与样品槽直径相同。

6.根据权利要求1所述的漫反射样品仓，其特征在于光学窗片为圆形石英晶体窗片。

7.根据权利要求1所述的漫反射样品仓，其特征在于光学窗片为KBr窗片。

8.根据权利要求1所述的漫反射样品仓，其特征在于光学窗片为ZnSe窗片。