[发明专利]老化测试系统有效

专利信息
申请号: 200910196931.2 申请日: 2009-10-09
公开(公告)号: CN102043100A 公开(公告)日: 2011-05-04
发明(设计)人: 张荣哲;简维廷;江顺旺 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R1/02
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 李丽
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 老化 测试 系统
【权利要求书】:

1.一种老化测试系统,包括老化板和老化测试装置,所述老化板包括:第一接口件,适于与所述老化测试装置相连接,实现与所述老化测试装置之间信号的输入和/或输出;第二接口件,适于与待测器件相连接,实现与所述待测器件之间信号的输入和/或输出;其特征在于,所述老化测试系统还包括:

引脚匹配单元,与所述老化板活动连接,适于根据所述待测器件的引脚定义,调整所述第一接口件与第二接口件中信号的对应连接关系。

2.如权利要求1所述的老化测试系统,其特征在于,所述老化板还包括多个与所述引脚匹配单元相对应的引脚接口。

3.如权利要求2所述的老化测试系统,其特征在于,所述引脚接口包括与所述第一接口件对应连接的第一接口部,以及与所述第二接口件对应连接的第二接口部。

4.如权利要求3所述的老化测试系统,其特征在于,所述引脚匹配单元包括多个引脚,插接于所述引脚接口,连接所述引脚接口的第一接口部和第二接口部。

5.如权利要求2所述的老化测试系统,其特征在于,所述引脚匹配单元相对于所述第二接口件,安装于所述老化板的另一侧。

6.如权利要求2所述的老化测试系统,其特征在于,所述引脚匹配单元包括:

匹配芯片,适于建立所述第二接口件与所述第一接口件之间的信号匹配;

封装电路及引脚,所述封装电路用于封装所述匹配芯片并通过所述引脚实现所述匹配芯片与外界的信号传输。

7.如权利要求6所述的老化测试系统,其特征在于,所述引脚匹配单元还包括:辅助匹配单元,适于对所述匹配芯片的匹配结果进行辅助调整。

8.如权利要求1所述的老化测试系统,其特征在于,所述第二接口件固接于所述老化板。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中芯国际集成电路制造(上海)有限公司,未经中芯国际集成电路制造(上海)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200910196931.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top