[发明专利]高浓度纳米颗粒粒径的测量方法及其检测装置

权利要求书

1.一种高浓度溶液纳米颗粒粒径的测量方法，其特征在于包括如下步骤：

a)连续激光由光纤入射到光纤耦合器，经分光后分别入射到样品臂和参考臂；

b)进入样品臂的光经准直聚焦透镜组照射到样品上，产生散射光，散射光经准直聚焦透镜组收集返回到光纤耦合器；

c)进入参考臂的光入射到干涉仪并从干涉仪经参考臂返回到光纤耦合器；

d)从样品臂和参考臂返回到光纤耦合器的光发生干涉，并传输给光电倍增管，光电倍增管将光信号转换为电脉冲信号输出给光谱分析仪；

b)光谱分析仪处理电脉冲信号。

2.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于所述光纤耦合器为2×2光纤耦合器。

3.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于所述参考臂和样品臂为单模光纤。

4.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于所述准直聚焦透镜组为两个非密接组合的凸透镜。

5.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于所述干涉仪能调节选择样品的单次散射光。

6.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于所述干涉仪为法布里珀罗干涉仪。

7.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于在第d)步中，所述的从样品臂和参考臂返回的光，如果所经历的光程差在光源的相干长度以内，则在光纤耦合器内发生干涉。

8.一种高浓度溶液纳米颗粒粒径的检测装置，其特征在于其由超高亮度发光二极管、光纤耦合器、干涉仪、准直聚焦透镜组、样品池、光纤、光电倍增管、光谱分析仪和计算机组成，其中发光二极管、光电倍增管、干涉仪和准直聚焦透镜组通过单模光纤与光纤耦合器桥接；光电倍增管、光谱分析仪、计算机通过电缆依次连接。

9.据权利要求8所述的检测装置，其特征在于所述干涉仪为法布里珀罗干涉仪。

10.据权利要求8所述的检测装置，其特征在于所述准直聚焦透镜组为两个非密接组合的准直透镜和聚焦透镜组成。