[发明专利]存储器接口及其操作方法无效

专利信息
申请号: 200910204040.7 申请日: 2009-09-30
公开(公告)号: CN101714399A 公开(公告)日: 2010-05-26
发明(设计)人: 黑木玲子 申请(专利权)人: 恩益禧电子股份有限公司
主分类号: G11C7/10 分类号: G11C7/10;G11C29/12
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 孙志湧;穆德骏
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 存储器 接口 及其 操作方法
【权利要求书】:

1.一种存储器接口,包括:

第一延迟电路,所述第一延迟电路被构造用于延迟要被提供给输入缓冲器的写入数据;

第二延迟电路,所述第二延迟电路被构造用于延迟从输出缓冲器读出的读取数据;

数据写入电路,所述数据写入电路被构造为通过所述第一延迟电路将所述写入数据提供给存储器;

数据读取电路,所述数据读取电路被构造为通过所述第二延迟电路读取被写入所述存储器中的所述写入数据作为所述读取数据;

边缘检测电路,所述边缘检测电路被构造用于检测所述读取数据的边缘;以及

控制电路,所述控制电路被构造用于检测基于所述写入数据或者所述读取数据的波动而形成的眼开口的开始边缘和结束边缘的位置,指定所述开始边缘和所述结束边缘的中间位置,并且基于所述中间位置与所述开始边缘和所述结束边缘中的一个之间的差来确定数据选通信号的相位,

其中,所述数据写入电路在通常模式下将第一测试数据写入所述存储器中,在所述第一测试数据中具有相同符号的至少两个比特连续,

所述数据读取电路从所述存储器中读取被写入的第一测试数据,

所述边缘检测电路检测所读取的第一测试数据的电平转变时的转变时刻,并且向所述控制电路通知所述转变时刻,并且

所述控制电路基于所述转变时刻指定所述眼开口的开始边缘的时刻,

其中,所述数据写入电路在通常模式下将第二测试数据写入所述存储器中,所述第二测试数据仅包含单个1比特的独立脉冲,

所述数据读取电路从所述存储器中读取被写入的第二测试数据,并且

所述控制电路检测所读取的第二测试数据是否与基于所述眼开口的开始边缘的位置而形成的读取数据的期望一致,并且基于所述期望来检测结束边缘的位置。

2.根据权利要求1所述的存储器接口,其中,所述控制电路将所述第一延迟电路和所述第二延迟电路的延迟值设置为最小值,并且指令所述数据写入电路来写入所述第一测试数据,

所述数据读取电路响应于第一数据选通信号和相位不同于所述第一数据选通信号的第二数据选通信号来执行读取,并且

所述边缘检测电路基于响应于所述第一和第二数据选通信号而分别锁存的第一测试数据的两个电平来检测转变时刻。

3.一种存储器接口的操作方法,包括:

检测基于数据的波动而形成的眼开口中的第一边缘的位置;

检测与所述第一边缘相对的第二边缘的位置;以及

将所述第一边缘和所述第二边缘之间的中间位置设置为数据选通信号的下降/上升位置,

其中,所述检测第一边缘的位置包括:

在通常模式下将第一测试数据写入存储器中,在所述第一测试数据中具有相同符号的至少两个比特连续;

从所述存储器中读取被写入的第一测试数据;

检测所读取的第一测试数据的电平转变时的转变时刻;以及

基于所述转变时刻指定所述眼开口的第一边缘的时刻,并且

其中,所述检测第二边缘的位置包括:

在通常模式下将第二测试数据写入存储器中,所述第二测试数据仅包含单个1比特的独立脉冲;

从所述存储器中读取被写入的第二测试数据;

检测所读取的第二测试数据是否与基于所述眼开口的第一边缘的时刻而期望的数据读取/写入的期望区域一致;以及

基于所述期望区域来检测第二边缘的位置。

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