[发明专利]轧制铜箔无效

专利信息
申请号: 200910205402.4 申请日: 2009-10-23
公开(公告)号: CN101932194A 公开(公告)日: 2010-12-29
发明(设计)人: 室贺岳海;关聪至;萩原登 申请(专利权)人: 日立电线株式会社
主分类号: H05K1/09 分类号: H05K1/09;C22C9/00
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 雒纯丹
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 轧制 铜箔
【权利要求书】:

1.一种轧制铜箔,含有

铜(Cu)和不可避免的杂质,

固溶在前述铜中的第1添加元素,

前述铜中所含的与前述不可避免的杂质之间形成化合物的与前述第1添加元素不同的第2添加元素。

2.如权利要求1所述的轧制铜箔,含有0.002重量%以下的氧。

3.如权利要求1或2所述的轧制铜箔,其中,前述第1添加元素是0.005重量%以上0.05重量%以下的银(Ag)。

4.如权利要求1所述的轧制铜箔,其中,前述第2添加元素是0.001重量%以上0.09重量%以下的硼(B)。

5.如权利要求3所述的轧制铜箔,其中,前述第2添加元素是0.001重量%以上0.09重量%以下的硼(B)。

6.如权利要求3所述的轧制铜箔,其中,前述第2添加元素是选自铌(Nb)、钛(Ti)、镍(Ni)、锆(Zr)、钒(V)、锰(Mn)、铪(Hf)、钽(Ta)和钙(Ca)中的一种元素,并且该元素的含量为0.001重量%以上0.09重量%以下。

7.如权利要求3所述的轧制铜箔,其中,前述第2添加元素是选自硼(B)、铌(Nb)、钛(Ti)、镍(Ni)、锆(Zr)、钒(V)、锰(Mn)、铪(Hf)、钽(Ta)和钙(Ca)中的多种元素,并且这些元素的总含量为0.001重量%以上0.09重量%以下。

8.如权利要求2所述的轧制铜箔,具有如下晶粒取向状态:在以轧制面为基准通过使用X射线衍射进行极点图测定而得到的测定结果中,前述极点图测定的α=90°时由β扫描所得到的铜晶体的{022}Cu面衍射峰的平均强度[a]和α=30°时由β扫描所得到的前述{022}Cu面衍射峰的平均强度[b]的比[a]/[b]为[a]/[b]≥3。

9.如权利要求1所述的轧制铜箔,具有20μm以下的厚度。

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