[发明专利]轧制铜箔无效
申请号: | 200910205402.4 | 申请日: | 2009-10-23 |
公开(公告)号: | CN101932194A | 公开(公告)日: | 2010-12-29 |
发明(设计)人: | 室贺岳海;关聪至;萩原登 | 申请(专利权)人: | 日立电线株式会社 |
主分类号: | H05K1/09 | 分类号: | H05K1/09;C22C9/00 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 雒纯丹 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 轧制 铜箔 | ||
技术领域
本发明涉及一种轧制铜箔。特别是,本发明涉及一种可用于挠性印刷线路板等的轧制铜箔。
背景技术
挠性印刷线路板(Flexible Printed Circuit:FPC),由于厚度薄,挠性优异,因此其对电子设备等的安装方式的自由度很高。因此,FPC可以用于折叠式便携电话的弯曲部分,数码相机、打印机头等的活动部分,以及硬盘驱动器(HardDisk Drive(HDD))、数字通用光盘(Digital Versatile Disc(DVD))、激光唱盘(Compact Disk(CD))等光盘相关设备的活动部分的配线等中。
以往,已知有一种挠性印刷线路基板用轧制铜箔,其含有100~500质量ppm的氧,并且以下式所定义的T为100~400的范围含有Ag、Au、Pd、Pt、Rh、Ir、Ru、Os中的一种以上,所述T=[Ag]+0.6[Au]+0.6[Pd]+0.4[Pt]+0.4[Rh]+0.3[Ir]+0.3[Ru]+0.3[Os](其中,[M]为元素M的质量ppm浓度),S、As、Sb、Bi、Se和Te的合计量为30质量ppm以下,厚度为5~50μm,由200度下退火30分钟后的轧制面的X射线衍射所求出200面的强度(I)相对于由微粉末铜的X射线衍射所求出的200面的强度(I0),I/I0>20,并且具有120~150℃的半软化温度,且在室温下持续并保持了300N/mm2以上的拉伸强度(例如,参见专利文献1)。
专利文献1中所述的挠性印刷线路基板用轧制铜箔,由于具有上述构成,因此发挥了优异的弯曲疲劳寿命特性。
此外,已知有一种耐弯曲用无氧铜轧制箔,其通过对含有10ppm~50ppm选自Nb、Ti、Ni、Zr、V、Mn和Ta的一种或多种元素,且氧等不可避免的杂质的含量为50ppm以下的无氧铜,进行90%以上加工度的最终冷加工而形成100μm以下的厚度,并且,在粘合了规定部件的表面上具有2μm以下的粗化面(例如,参见专利文献2)。
专利文献2中所述的耐弯曲用无氧铜轧制箔,由于具有上述构成,因此发挥了优异的弯曲疲劳寿命特性。
背景技术文献如下:
[专利文献1]日本特开2002-167632号公报
[专利文献2]日本特开平4-56754号公报
发明内容
发明要解决的问题
然而,专利文献1中所述的挠性印刷线路基板用轧制铜箔,在各种温度条件中,在高温条件下,由于在铜箔中过多地进行了再结晶,因此存在有弯曲疲劳寿命特性降低的情况。此外,专利文献1中所述的挠性印刷线路基板用轧制铜箔,在由该铜箔中所含的氧生成氧化物时,存在有该氧化物形成了疲劳破坏起点的情况,并且弯曲疲劳寿命特性的提高有限。
此外,专利文献2中所述的耐弯曲用无氧铜轧制,由于使用无氧铜作为母材,并含有降低软化温度的元素,因此低温条件下的弯曲疲劳寿命特性提高,但是在高温条件下,在铜箔中过多地进行了再结晶,因此在该情况下,存在有铜箔的弯曲疲劳寿命特性降低的情况。因此,专利文献1中所述铜箔和专利文献2中所述铜箔的任一种,在实施了从低温条件到高温条件的宽温度条件的热处理后,都难以发挥优异的弯曲疲劳寿命特性。
因此,本发明的目的在于提供一种即使在实施了宽温度范围的热处理后,也可以发挥优异的弯曲疲劳寿命特性的轧制铜箔。
解决问题的手段
本发明为了实现上述目的,提供了一种轧制铜箔,其含有铜(Cu)和不可避免的杂质、固溶在铜中的第1添加元素以及铜中所含的与不可避免的杂质之间形成化合物的与第1添加元素不同的第2添加元素。
此外,上述轧制铜箔,可以进一步含有0.002重量%以下的氧。
此外,上述轧制铜箔,其中第1添加元素优选是0.005重量%以上且为0.05重量%以下的银(Ag)。
此外,上述轧制铜箔,其中第2添加元素优选是0.001重量%以上且为0.09重量%以下的硼(B)。
此外,上述轧制铜箔,其中第2添加元素是选自铌(Nb)、钛(Ti)、镍(Ni)、锆(Zr)、钒(V)、锰(Mn)、铪(Hf)、钽(Ta)和钙(Ca)的一种元素,并且该元素的含量可以为0.001重量%以上为0.09重量%以下。
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