[发明专利]用于有机发光二极管显示装置的蚀刻剂组合物有效

专利信息
申请号: 200910205785.5 申请日: 2009-09-11
公开(公告)号: CN101684408A 公开(公告)日: 2010-03-31
发明(设计)人: 具炳秀;朴贵弘;申贤哲;曺三永;李期范 申请(专利权)人: 株式会社东进世美肯
主分类号: C09K13/10 分类号: C09K13/10
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 代理人: 丁文蕴
地址: 韩国仁*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要:
搜索关键词: 用于 有机 发光二极管 显示装置 蚀刻 组合
【权利要求书】:

1.一种蚀刻剂组合物,包括:

过硫酸铵((NH4)2S2O8)20-30wt%;

硝酸基化合物1-5wt%;

乙酸基化合物0.1-5wt%;

含氟基化合物0.2-5wt%;

含硼化合物0.01-3wt%;以及

水39-73wt%,但是不含唑基化合物。

2.根据权利要求1的蚀刻剂组合物,其中该硝酸基化合物包括硝酸、硝 酸盐或者它们的混合物。

3.根据权利要求1的蚀刻剂组合物,其中该硝酸基化合物包括选自 HNO3、KNO3、NH4NO3、Cu(NO3)2·3H2O、Zn(NO3)2·6H2O、Ca(NO3)2·4H2O、 NaNO3、Ba(NO3)2、Ce(NO3)3、LiNO3、Mg(NO3)2、Mn(NO3)2、AgNO3和Fe(NO3)3组成的组中的至少一种化合物。

4.根据权利要求1的蚀刻剂组合物,其中该乙酸基化合物包括乙酸、乙 酸盐或者它们的混合物。

5.根据权利要求1的蚀刻剂组合物,其中该乙酸基化合物包括选自乙酸、 乙酸铵、乙酸钾、乙酸钠和亚氨基二乙酸(HN(CH2COOH)2)组成的组中的至 少一种化合物。

6.根据权利要求1的蚀刻剂组合物,其中该含氟基化合物包括选自MgF2、 HF、H2SiF6、NaF、NaHF2、NH4F、NH4HF2、NH4BF4、KF、KHF2、AlF3和 HBF4组成的组中的至少一种化合物。

7.根据权利要求1的蚀刻剂组合物,其中该含氟基化合物包括被缓冲的 氢氟酸。

8.根据权利要求1的蚀刻剂组合物,其中该含硼化合物包括选自H3BO3、 B2O2、B2O3、B4O3、B4O5、KBO2、NaBO2、HBO2、H2B4O7、Na2B4O7·10H2O、 KB5O8·4H2O、BN、BF3、BCl3和BBr3组成的组中的至少一种化合物。

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