[发明专利]一种粘性材料的检测方法有效
申请号: | 200910235756.3 | 申请日: | 2009-10-13 |
公开(公告)号: | CN101696924A | 公开(公告)日: | 2010-04-21 |
发明(设计)人: | 冯杰;王先荣;柏树;王鹢;姚日剑;颜则东;庄建宏 | 申请(专利权)人: | 中国航天科技集团公司第五研究院第五一〇研究所 |
主分类号: | G01N11/00 | 分类号: | G01N11/00;G01N5/02 |
代理公司: | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人: | 张利萍 |
地址: | 730000*** | 国省代码: | 甘肃;62 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 粘性 材料 检测 方法 | ||
1.一种粘性材料的检测方法,其特征在于包括下列步骤:
步骤一、用真空润滑脂类粘性材料在石英晶片上制成粘性膜,制得粘性膜石英晶片数个;
步骤二、在常温常压条件下对步骤一中所述粘性膜石英晶片进行灰尘尘降实验,用晶体阻抗计测量并记录下所述粘性膜石英晶片频率的变化规律为:随着灰尘的降落,晶片的频率降低;
步骤三、在真空条件下对步骤一中所述粘性膜石英晶片进行灰尘尘降实验,将所述粘性膜石英晶片放入真空设备的真空室中,在真空度为10-3~10-6Pa条件下进行灰尘尘降,通过外引线用晶体阻抗计测量并记录下所述粘性膜石英晶片频率的变化规律,若所述变化规律与步骤二中的变化规律一致,则说明真空对步骤一中所述粘性材料的正常工作无影响;
步骤四、在真空高低温交变条件下对步骤一中所述粘性膜石英晶片进行灰尘尘降实验,将所述粘性膜石英晶片放入真空设备的真空室中,利用温控系统对所述真空设备的真空室进行温度调换,在真空度为10-3~10-6Pa,温度为-20℃~120℃高低温交变的条件下进行灰尘尘降,用晶体阻抗计测量并记录下粘性膜石英晶片频率的变化规律,若所述变化规律与步骤二中的变化规律一致,则说明真空高低温交变对步骤一中所述粘性材料的正常工作无影响;
步骤五、在电离辐射条件下对步骤一中所述粘性膜石英晶片进行灰尘尘降实验,辐射的电离总剂量大于106rad(Si),在辐射后的粘性膜石英晶片上进行灰尘尘降,用晶体阻抗计测量并记录下其频率的变化规律,若所述变化规律与步骤二中的变化规律一致,则说明电离辐射对步骤一中所述粘性材料的正常工作无影响;
步骤六、在真空紫外辐照射条件下对步骤一中所述粘性膜石英晶片进行灰尘尘降实验,将所述粘性膜石英晶片在真空中进行紫外辐射实验,所述真空中进行紫外辐射实验的条件为:真空度为10-3~10-6Pa,紫外辐射总辐射量大于48.4千卡/cm2;在辐射后的粘性膜石英晶片上进行灰尘尘降,用晶体阻抗计测量并记录下其频率的变化规律,若所述变化规律与步骤二中的变化规律一致,则说明真空紫外辐射对步骤一中所述粘性材料的正常工作无影响。
2.根据权利要求1所述的一种粘性材料的检测方法,其特征在于:步骤一中所述的粘性材料是指不会被月表环境所破坏性质的真空润滑脂粘性材料,所述粘性材料对微小尘埃具有黏附作用,并可通过粘性膜石英晶片频率的下降反应出粘性材料的粘性。
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