[发明专利]一种粘性材料的检测方法有效

专利信息
申请号: 200910235756.3 申请日: 2009-10-13
公开(公告)号: CN101696924A 公开(公告)日: 2010-04-21
发明(设计)人: 冯杰;王先荣;柏树;王鹢;姚日剑;颜则东;庄建宏 申请(专利权)人: 中国航天科技集团公司第五研究院第五一〇研究所
主分类号: G01N11/00 分类号: G01N11/00;G01N5/02
代理公司: 北京理工大学专利中心 11120 代理人: 张利萍
地址: 730000*** 国省代码: 甘肃;62
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摘要:
搜索关键词: 一种 粘性 材料 检测 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种粘性材料的检测方法,具体地说,本发明涉及一种适用于月表空间环境的粘性材料的检测方法,属于真空技术领域。

背景技术

月球表面具有特殊的空间环境,月球表面的大气非常稀薄,表面气压约为10-11~10-12Pa,稀薄的大气使得太阳光直接照射到月球表面,月球表面被岩石覆盖,因此月球表面高低温的交变频繁,宇宙射线和离子能够直接照射到月球表面。由于粘性膜具有粘性,可以黏附微小尘埃,因此粘性石英晶体微量天平能够测量微小尘埃的质量,本发明通过模拟月表空间环境的适应性实验,利用粘性石英晶体微量天平检测出适用于制备所述粘性石英晶体微量天平粘性膜的粘性材料。

发明内容

本发明的目的是为了解决找到适用于月表高真空、高低温交变、强电离辐射、紫外辐照空间环境的粘性材料的问题,提供了一种粘性材料的检测方法。

本发明的目的是通过下述技术方案实现:

本发明一种粘性材料的检测方法具体实现步骤如下:

步骤一、用真空润滑脂类粘性材料在石英晶片上制成粘性膜,制得粘性膜石英晶片数个;

步骤二、在常温常压条件下对步骤一中所述粘性膜石英晶片进行灰尘尘降实验,用晶体阻抗计测量并记录下所述粘性膜石英晶片频率的变化规律为:随着灰尘的降落,晶片的频率降低;

步骤三、在真空条件下对步骤一中所述粘性膜石英晶片进行灰尘尘降实验,将所述粘性膜石英晶片放入真空设备的真空室中,在真空度为10-3~10-6Pa条件下进行灰尘尘降,通过外引线用晶体阻抗计测量并记录下所述粘性膜石英晶片频率的变化规律,若所述变化规律与步骤二中的变化规律一致,则说明真空对 步骤一中所述粘性材料的正常工作无影响;

步骤四、在真空高低温交变条件下对步骤一中所述粘性膜石英晶片进行灰尘尘降实验,将所述粘性膜石英晶片放入真空设备的真空室中,利用温控系统对所述真空设备的真空室进行温度调换,在真空度为10-3~10-6Pa,温度为-20℃~120℃高低温交变的条件下进行灰尘尘降,用晶体阻抗计测量并记录下粘性膜石英晶片频率的变化规律,若所述变化规律与步骤二中的变化规律一致,则说明真空高低温交变对步骤一中所述粘性材料的正常工作无影响;

步骤五、在电离辐射条件下对步骤一中所述粘性膜石英晶片进行灰尘尘降实验,辐射的电离总剂量大于106rad(Si),在辐射后的粘性膜石英晶片上进行灰尘尘降,用晶体阻抗计测量并记录下其频率的变化规律,若所述变化规律与步骤二中的变化规律一致,则说明电离辐射对步骤一中所述粘性材料的正常工作无影响;

步骤六、在真空紫外辐射条件下对步骤一中所述粘性膜石英晶片进行灰尘尘降实验,将所述粘性膜石英晶片在真空中进行紫外辐射实验,所述真空中进行紫外辐射实验的条件为:真空度为10-3~10-6Pa,紫外辐射总辐射量大于48.4千卡/cm2;在辐射后的粘性膜石英晶片上进行灰尘尘降,用晶体阻抗计测量并记录下其频率的变化规律,若所述变化规律与步骤二中的变化规律一致,则说明真空紫外辐射对步骤一中所述粘性材料的正常工作无影响。

有益效果

通过将粘性材料制备成粘性膜,黏附到石英晶片上,结合粘性石英晶体微量天平测量自由尘降的微小尘埃的方法,提供了一种检测所述粘性材料在经历真空、真空高低温交变、电离辐射、真空紫外辐射空间环境后的粘性变化的方法,为找到适用于月表环境的粘性材料做出了有益探索。

具体实施方式

为了充分说明本发明的特性以及实施本发明的方式,下面给出实施例。

实施例1

步骤一、用ApeizonL真空脂在石英晶片上制成粘性膜,制得粘性膜石英晶片数个;

步骤二、在常温常压条件下对步骤一中所述粘性膜石英晶片进行灰尘尘降 实验,用晶体阻抗计测量并记录下所述粘性膜石英晶片频率的变化规律为:随着灰尘的降落,晶片的频率降低;

步骤三、在真空条件下对步骤一中所述粘性膜石英晶片进行灰尘尘降实验,将所述粘性膜石英晶片放入真空设备的真空室中,在真空度为10-6Pa条件下进行灰尘尘降,通过外引线用晶体阻抗计测量并记录下所述粘性膜石英晶片频率的变化规律为:随着灰尘的降落,晶片的频率降低,与步骤二中的变化规律一致,说明真空对步骤一中所述粘性材料的正常工作无影响;

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