[发明专利]砷化镓或锗单晶生长方法有效
申请号: | 200910243510.0 | 申请日: | 2009-12-24 |
公开(公告)号: | CN101724886A | 公开(公告)日: | 2010-06-09 |
发明(设计)人: | 卜俊鹏;于会永 | 申请(专利权)人: | 中科晶电信息材料(北京)有限公司 |
主分类号: | C30B11/00 | 分类号: | C30B11/00;C30B29/42;C30B29/06 |
代理公司: | 北京双收知识产权代理有限公司 11241 | 代理人: | 左明坤 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 砷化镓 锗单晶 生长 方法 | ||
技术领域
本发明涉及晶体生长领域,尤指一种砷化镓或锗单晶生长方法。
背景技术
现在砷化镓或锗单晶的生长技术多采用传统VGF(垂直梯度凝固法),传统VGF通常采用 PBN(热解氮化硼)坩埚作为反应容器,将多晶料放入PBN(热解氮化硼)坩埚内,通过在各 时间段一定温度及压力控制下使多晶料在PBN(热解氮化硼)坩埚内生长,由于砷化镓或锗 晶体均不与PBN浸润,直接合成时,由于坩埚的不平整,使其内表面形成新的成核中心,导致 生成的砷化镓或锗单晶率下降.
为解决单晶率问题,现在普遍采用B2O3作为覆盖剂和浸润剂,使得PBN,B2O3和砷化镓 或锗晶体三者形成浸润。但是采用B2O3作覆盖剂时有如下缺点:不可避免的使B进入砷化镓 或锗晶体内成为杂质,该杂质含量可达1018量级,并且B的进入对衬底质量有影响。
发明内容
本发明的目的在于提供一种砷化镓或锗单晶生长方法,其使得生长的单晶中杂质B含量 降低且保证衬底质量不受影响。
为了实现上述目的,本发明的技术解决方案为:一种砷化镓或锗单晶生长方法,其包括 如下步骤:
(1)将PBN用1200号砂纸修平至无明显台阶,然后将其放入由去离子水、氨水及双氧 水混合的体积比例为2∶1∶1的洗液中浸泡30分钟,之后再将PBN用去离子水洗净;
(2)将PBN在180-220℃的真空状态下用烘烤炉烘烤25-33分钟,然后再在900-1050℃ 的真空状态下用烘烤炉烘烤30分钟以上;
(3)向PBN中充入1atm的高纯氧气,使PBN在900-1050℃的烘烤炉烘烤30分钟以上;
(4)待PBN冷却到50℃直接装入干净的多晶料,在2分钟内完成装料,装料环境温度 控制在20-25℃,湿度控制在40%以下;
(5)装料完成后,按传统VGF工艺完成单晶生长。
本发明砷化镓或锗单晶生长方法,其中所述步骤(2)PBN在真空状态下用烘烤炉烘烤的 温度为190-200℃,在900-1050℃的真空状态下用烘烤炉烘烤60分钟。
本发明砷化镓或锗单晶生长方法,其中所述步骤(3)PBN在烘烤炉中烘烤40分钟。
本发明砷化镓或锗单晶生长方法,其中所述步骤(4)在万级洁净间内进行,其湿度控制 在10%以下。
采用上述方案后,本发明砷化镓或锗单晶生长方法在不影响单晶率的前提下,避免了B 对晶体的污染,使得砷化镓或锗晶体中B的含量降低到了1015量级,而且不会影响衬底质量; 另外该生长技术中不使用B2O3,从而降低了单晶生产的成本。
具体实施方式
实施例一
本发明砷化镓或锗单晶生长方法,其包括如下步骤:
(1)将PBN用1200号砂纸修平至无明显台阶,然后将其放入由去离子水、氨水及双氧 水混合的体积比例为2∶1∶1的洗液中浸泡30分钟,之后再将PBN用去离子水洗净;
(2)将PBN在200℃的真空状态下用烘烤炉烘烤约30分钟,然后再在900℃的真空状态 下用烘烤炉烘烤60分钟;
(3)向PBN中充入1atm的高纯氧气,使PBN在900℃的烘烤炉烘烤40分钟;
(4)待PBN冷却到50℃左右时直接装入干净的多晶料,在2分钟内完成装料,该装料 在万级洁净间内进行,其环境温度控制在20-25℃,湿度控制在10%以下;
(5)装料完成后,按传统VGF工艺即通过在各时间段控制不同温度及压力使多晶料在 PBN(热解氮化硼)坩埚内完成单晶生长。
实施例二
本发明砷化镓或锗单晶生长方法,其包括如下步骤:
(1)将PBN用1200号砂纸修平至无明显台阶,然后将其放入由去离子水、氨水及双氧 水混合的体积比例为2∶1∶1的洗液中浸泡30分钟,之后再将PBN用去离子水洗净;
(2)将PBN在200℃的真空状态下用烘烤炉烘烤约30分钟,然后再在1000℃的真空状态 下用烘烤炉烘烤60分钟;
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