[发明专利]制造光电转换器件的方法有效

专利信息
申请号: 200910252645.3 申请日: 2007-07-10
公开(公告)号: CN101714568A 公开(公告)日: 2010-05-26
发明(设计)人: 浦贤一郎;福元嘉彦;片冈有三 申请(专利权)人: 佳能株式会社
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146;H04N5/335;H04N5/225
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 杨国权
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 制造 光电 转换 器件 方法
【权利要求书】:

1.一种制造光电转换器件的方法,该光电转换器件包括:

第一导电类型的第一半导体区;

第二导电类型的第二半导体区,用于与第一半导体区的一部分一 起形成光电转换元件;

传输栅电极,将在光电转换元件中产生的电荷转移到第二导电类 型的第三半导体区;

元件隔离区,用于将光电转换元件与同光电转换元件相邻的晶体 管电隔离;

第二导电类型的第四半导体区,被布置成将元件隔离区夹在第四 半导体区和第二半导体区之间,以使得第四半导体区形成同光电转换 元件相邻的晶体管的源极或漏极;以及

布置在元件隔离区上用于将电压施加到传输栅电极的布线,

其中,所述方法包括:

第一步骤,形成所述传输栅电极、所述布线以及同光电转换元件 相邻的晶体管的栅电极;

第二步骤,在第一半导体区中形成第二半导体区和第三半导体 区;

第三步骤,形成绝缘薄膜,该绝缘薄膜覆盖第二半导体区、所述 布线、整个的元件隔离区、通过元件隔离区与光电转换元件相邻的活 性区的一部分;以及

第四步骤,通过以所述绝缘薄膜作为掩模将第二导电类型的杂质 离子注入到所述活性区的一部分,以形成第四半导体区,以使得第四 半导体区域与元件隔离区域分离开。

2.根据权利要求1所述的制造光电转换器件的方法,还包括:

第五步骤,形成覆盖所述绝缘薄膜的层间绝缘薄膜,以及在层间 绝缘薄膜中形成与第四半导体区对应的用于接触的开口。

3.根据权利要求1所述的制造光电转换器件的方法,其中:

在第二步骤期间,至少在所述活性区的一部分上形成第二导电类 型的第五半导体区;以及

在第四步骤期间,将栅电极的侧壁用作掩模来执行离子注入以形 成第四半导体区,从而使得第四半导体区的杂质浓度高于第五半导体 区的杂质浓度。

4.根据权利要求1所述的制造光电转换器件的方法,其中:

在第三步骤期间,所述绝缘薄膜在同光电转换元件相邻的晶体管 的栅电极处形成侧壁。

5.根据权利要求1所述的制造光电转换器件的方法,其中:

在第二步骤期间,由多晶硅形成所述传输栅电极、所述布线和同 光电转换元件相邻的晶体管的栅电极。

6.根据权利要求1所述的制造光电转换器件的方法,其中:

在第三步骤期间,所述绝缘薄膜是氧化物薄膜。

7.根据权利要求1所述的制造光电转换器件的方法,其中:

在第四步骤期间,所述第二导电类型的杂质包括砷。

8.根据权利要求3所述的制造光电转换器件的方法,其中:

在第四步骤期间,所述第二导电类型的杂质是砷。

9.根据权利要求1所述的制造光电转换器件的方法,其中:

还将所述绝缘薄膜布置在光电转换元件上。

10.根据权利要求3所述的制造光电转换器件的方法,其中:

还将所述绝缘薄膜布置在光电转换元件上。

11.根据权利要求6所述的制造光电转换器件的方法,其中:

在第三步骤之前形成氮化物薄膜。

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