[发明专利]放射线检测器有效
申请号: | 200910259160.7 | 申请日: | 2009-12-15 |
公开(公告)号: | CN101806914A | 公开(公告)日: | 2010-08-18 |
发明(设计)人: | 柳主铉;须永义则;川内秀贵;井上慎一;高桥勋 | 申请(专利权)人: | 日立电线株式会社 |
主分类号: | G01T1/24 | 分类号: | G01T1/24;H01L27/144 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 张敬强 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 放射线 检测器 | ||
1.一种放射线检测器,
具备:
可检测放射线的半导体元件;
固定有上述半导体元件的基板;以及,
具有与设置在上述半导体元件的上述基板的相反侧的元件用电极连 接的连接图案且具有挠性的挠性基板,
上述半导体元件设置在上述基板的一个面上,
上述挠性基板设置在上述半导体元件的上述基板的相反侧,具备具有挠性 的基膜、和贴合在上述基膜上的绝缘膜,上述连接图案设置在上述基膜和上述 绝缘膜之间,
上述放射线检测器的特征在于,
还具备固定在上述基板上、并通过夹入上述基板来压缩并支撑上述基板的 支撑部件,
上述基板在上述基板的第一端部侧具有上述半导体元件,在上述基板的上 述第一端部相反侧的第二端部侧具有能够与外部电路基板连接的卡边缘部,在 上述半导体元件与上述卡边缘部之间具有上述支撑部件。
2.根据权利要求1所述的放射线检测器,其特征在于,
还具备设置在上述半导体元件和上述基板之间,且与上述基板的上述一个 面连接的其他半导体元件、和
双面带图案挠性基板,该双面带图案挠性基板设置在上述半导体元件和上 述其他半导体元件之间,并且在两面具有与上述半导体元件以及上述其他半导 元件的每个连接的连接图案。
3.根据权利要求1所述的放射线检测器,其特征在于,
上述支撑部件构成为具有通过夹入上述基板来支撑上述基板的第一支撑 部件和第二支撑部件,
上述第一支撑部件和上述第二支撑部件分别包括突起部、和嵌合上述突起 部的嵌合孔,上述第一支撑部件的上述突起部贯通上述基板的贯通孔而与上述 第二支撑部件的上述嵌合孔嵌合,由此固定上述第一支撑部件和上述第二支撑 部件,并且,通过该固定,上述第一支撑部件和上述第二支撑部件压缩上述基 板来支撑上述基板。
4.根据权利要求1所述的放射线检测器,其特征在于,
上述基板在上述半导体元件和卡边缘部之间还具有电子部件搭载部,其搭 载与上述半导体元件电连接的电子部件,
上述支撑部件设置为覆盖上述电子部件搭载部。
5.根据权利要求1所述的放射线检测器,其特征在于,
上述放射线检测器是排列多个上述放射线检测器而构成的放射线检测装 置用的放射线检测器。
6.根据权利要求1所述的放射线检测器,其特征在于,
上述基板具有多个上述半导体元件,
多个上述半导体元件以上述基板为对称面设置在上述基板的一个面以及 另一个面上。
7.根据权利要求1所述的放射线检测器,其特征在于,
上述基板具有与壁部的厚度相同程度的厚度或上述壁部的厚度以下的厚 度,上述壁部的厚度是隔着具有多个开口的准直器的上述多个开口的壁部的厚 度。
8.根据权利要求1所述的放射线检测器,其特征在于,
上述半导体元件具有检测放射线的多个像素。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于日立电线株式会社,未经日立电线株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200910259160.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:氮化物半导体发光元件
- 下一篇:双离合器变速器