[发明专利]用于控制密封件分配器设备的方法有效
申请号: | 200910260634.X | 申请日: | 2009-12-18 |
公开(公告)号: | CN101750801A | 公开(公告)日: | 2010-06-23 |
发明(设计)人: | 金贤泰;李根德;程成德 | 申请(专利权)人: | AP系统股份有限公司 |
主分类号: | G02F1/1339 | 分类号: | G02F1/1339 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 臧建明 |
地址: | 韩国京畿道*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 控制 密封件 分配器 设备 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种用于控制密封件分配器设备(seal dispenserapparatus)的方法,且尤其涉及一种用于调节间距传感器(gap sensor)与用于施加密封剂的密封件分配器的喷嘴之间的距离的方法。
背景技术
常规显示器装置包含阴极射线管(cathode ray tube,CRT)。然而,CRT较大且较重。因此,例如液晶显示器装置(liquid crystal display device,LCD)、等离子体显示器面板(plasma display panel,PDP)和有机发光装置(organic light emitting device,OLED)等平板显示器面板的使用正在增加,因为其较轻且平坦,且消耗较低功率。
通过结合一对平板型衬底来制造平板显示器面板。举例来说,在制造LCD的情况下,首先,制造下部衬底和上部衬底,其中下部衬底包含薄膜晶体管(thin film transistors)和像素电极(pixel electrodes),且上部衬底包含彩色滤光片(color filter)和公共电极(common electrode)。随后,使液晶降落到下部衬底上且将密封剂施加于下部衬底的边缘区。随后,在将下部衬底的形成有像素电极的一侧以安置成面对上部衬底的形成有公共电极的一侧之后,将下部衬底和上部衬底结合在一起以制造LCD。
此处,使用密封件分配器设备来施加密封剂。使用常规密封件分配器设备沿着衬底的边缘区施加密封剂。
在此点,需要用于精确控制衬底与密封件分配器设备的密封剂注射喷嘴之间的间距的技术。也就是说,在衬底与喷嘴之间的间距非常小的情况下,所施加密封剂的图案会变宽且密封剂图案的高度会变小。另一方面,在衬底 与喷嘴之间的间距较大的情况下,形成于衬底上的密封剂图案的宽度变小且密封剂图案不连续,即,密封剂图案的一些部分没了。
因此,当通过将密封剂施加到衬底上来形成密封剂图案时,在衬底的表面不平或单独层形成于衬底的表面的一些部分上的情况下,喷嘴与衬底之间的间距改变了。
结果,最近的密封件分配器设备进一步包含用于测量喷嘴与衬底之间的间距的间距传感器。因此,可通过在施加密封剂期间周期性地测量喷嘴与衬底之间的间距来恒定地维持衬底与喷嘴之间的间距,以防止密封剂图案的失效。
然而,由于在密封件分配器设备、喷嘴和间距传感器经组装的情况下,在喷嘴与间距传感器之间的实际距离与目标距离之间存在差异。实际距离也可能在更换喷嘴期间改变。
因此,间距传感器的测量点因喷嘴与间距传感器之间出现的距离差异而改变。也就是说,间距传感器变为测量衬底区之间的不需要的距离。因此,导致密封剂图案发生变化。举例来说,喷嘴与间距传感器之间的距离差异造成以下问题:间距传感器测量其中有膜层形成的衬底区中的衬底与喷嘴之间的距离,而不是测量其中施加密封剂的衬底区中的衬底与喷嘴之间的距离。
因此,需要准确地测量喷嘴与间距传感器之间的距离长度。
最近,已提出各种测量技术来测量喷嘴与间距传感器之间的距离长度。
在测量技术中,有一种在韩国专利第10-752237号中陈述的测量方法,且这将在下文中描述。根据韩国专利第10-752237号,Y轴膏施加单元(Y-axispaste applying unit)通过在Y轴方向上移动喷嘴或衬底而形成于衬底上,且随后在X轴方向上移动间距传感器或衬底以扫描Y轴膏施加单元,且计算X轴方向上喷嘴与间距传感器之间的距离。随后,X轴膏施加单元(X-axispaste applying unit)通过在X轴方向上移动喷嘴或衬底而形成,且通过在Y轴方向上移动间距传感器或衬底且扫描X轴膏施加单元来计算Y轴方向上 喷嘴与间距传感器之间的距离。因此,可通过执行多个施加和扫描过程来测量喷嘴与间距传感器之间的距离长度。
根据韩国专利第10-752237号,执行4步骤工艺,即施加-扫描-施加-扫描,以测量喷嘴与间距传感器之间的距离长度。因此,需要较长时间来测量喷嘴与间距传感器之间的距离长度。这是因为用于每一处理步骤的休息时间(recess time)变得较长且密封件分配器的移动和中止周期增加。
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