[发明专利]用于全数字锁相环的锁定检测方法及装置有效
| 申请号： | 200910311790.4 | 申请日： | 2009-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN102104378A | 公开（公告）日： | 2011-06-22 |
| 发明（设计）人： | 田欢欢;张海英 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | H03L7/085 | 分类号： | H03L7/085 |
| 代理公司： | 北京市德权律师事务所 11302 | 代理人： | 王建国 |
| 地址： | 100029 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 数字 锁相环 锁定 检测 方法 装置 | ||
1.一种用于全数字锁相环的锁定检测方法，其特征在于，包括：
当所述全数字锁相环进入动态锁定状态时，将所述全数字锁相环的相位误差信号或数字控制振荡器控制字记录在寄存器阵列中；
统计所述寄存器阵列中每个寄存器中的值；
计算所述寄存器阵列的不相等数，其中，当所述寄存器阵列中的值全相等时，所述不相等数等于0，如果所述寄存器阵列中的值分别为第一值或第二值，所述不相等数等于col(1，m)*col(1，n)；以及
根据所述不相等数生成锁定信号，以确定所述全数字锁相环是否锁定，
其中，其中，m，n是正整数，m表示其值为所述第一值的寄存器的数量，以及n表示其值为所述第二值的寄存器的数量。
2.根据权利要求1所述的用于全数字锁相环的锁定检测方法，其特征在于，所述第一值与所述第二值相近。
3.根据权利要求2所述的用于全数字锁相环的锁定检测方法，其特征在于，所述寄存器阵列构成先进先出寄存器。
4.根据权利要求2所述的用于全数字锁相环的锁定检测方法，其特征在于，所述寄存器阵列包括7个寄存器。
5.一种用于全数字锁相环的锁定检测装置，其特征在于，包括：
记录单元，用于在所述全数字锁相环进入动态锁定状态时，将所述全数字锁相环的相位误差信号或数字控制振荡器控制字记录在寄存器阵列中；
统计单元，统计所述寄存器阵列中每个寄存器中的值；
计算单元，计算所述寄存器阵列的不相等数，其中，当所述寄存器阵列中的值全相等时，所述不相等数等于0，如果所述寄存器阵列中的值分别为第一值或第二值，所述不相等数等于col(1，m)*col(1，n)；以及
确定单元，根据所述不相等数生成锁定信号，以确定所述全数字锁相环是否锁定，
其中，其中，m，n是正整数，m表示其值为所述第一值的寄存器的数量，以及n表示其值为所述第二值的寄存器的数量。
6.根据权利要求5所述的用于全数字锁相环的锁定检测装置，其特征在于，所述第一值与所述第二值相近。
7.根据权利要求6所述的用于全数字锁相环的锁定检测装置，其特征在于，所述寄存器阵列构成先进先出寄存器。
8.根据权利要求6所述的用于全数字锁相环的锁定检测装置，其特征在于，所述寄存器阵列包括7个寄存器。
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