[实用新型]接触式功能测试装置无效
| 申请号： | 200920004100.6 | 申请日： | 2009-02-01 |
| 公开（公告）号： | CN201348646Y | 公开（公告）日： | 2009-11-18 |
| 发明（设计）人： | 冯是睿;陈中滨;吴文峰 | 申请（专利权）人： | 建汉科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/073 |
| 代理公司： | 北京北新智诚知识产权代理有限公司 | 代理人： | 朱丽华 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 接触 功能 测试 装置 | ||
1、一种接触式功能测试装置，其特征在于包括有：
一转接板，包括有一第一表面及一第二表面；
一芯片容置区，设置于该转接板的第一表面，并用以容置一芯片；
一个以上的穿孔，设置于该转接板的芯片容置区内，并贯穿该转接板；
一个以上的探针，分别设置于该穿孔内；及
一导电布，设置于该转接板的第二表面，并电性连接该探针。
2、根据权利要求1所述的接触式功能测试装置，其特征在于：其中所述探针包括一爪部及一顶部，且探针的爪部与芯片接触，而探针的顶部则与导电布接触。
3、根据权利要求1所述的接触式功能测试装置，其特征在于：还包括有一容置空间，设置于所述转接板的第二表面，并用以容置导电布，且所述穿孔由芯片容置区延伸至该容置空间。
4、根据权利要求3所述的接触式功能测试装置，其特征在于：其中所述探针包括有一爪部及一顶部，且爪部设置于芯片容置区，顶部设置于容置空间。
5、根据权利要求1所述的接触式功能测试装置，其特征在于：还包括有至少一连接孔，设置于所述转接板上，且该连接孔由转接板的第一表面延伸至第二表面，该连接孔用以容置一连接单元。
6、根据权利要求1所述的接触式功能测试装置，其特征在于：其中所述转接板的第二表面设置于一电路板上，并使得导电布与该电路板接触。
7、根据权利要求6所述的接触式功能测试装置，其特征在于：其中所述电路板包括有至少一固定孔，而转接板则包括有至少一连接孔，并将一连接单元穿过该连接孔与该固定孔相连接。
8、根据权利要求6所述的接触式功能测试装置，其特征在于：还包括有至少一定位单元，设置于所述转接板的第二表面，而电路板上设有至少一定位孔。
9、根据权利要求1所述的接触式功能测试装置，其特征在于：其中所述芯片容置区包括有一个以上的侧边，且该侧边以倾斜的方式设置。
10、根据权利要求1所述的接触式功能测试装置，其特征在于：其中该探针以一体成型的方式设置。
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