[实用新型]一种计算埋入式导体深度的探测仪有效

专利信息
申请号: 200920007569.5 申请日: 2009-03-02
公开(公告)号: CN201607209U 公开(公告)日: 2010-10-13
发明(设计)人: 约翰·马克果;理查德·戴维皮尔逊 申请(专利权)人: 雷迪有限公司
主分类号: G01B7/26 分类号: G01B7/26;G01V3/08
代理公司: 上海衡方知识产权代理有限公司 31234 代理人: 卞孜真
地址: 英国布里*** 国省代码: 英国;GB
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摘要:
搜索关键词: 一种 计算 埋入 导体 深度 探测仪
【权利要求书】:

1.一种计算埋入式导体深度的探测仪,其特征在于,探测仪包括:

用来检测上述导体辐射的电磁场的多个天线;

在所述天线探测范围的基础上计算上述导体深度的装置,包括依次连接的:前置放大、均衡滤波、增益开关,混频器,编解码器,及数字信号处理模块;

以及显示计算出的上述导体深度的用户界面。

2.根据权利要求1所述的计算埋入式导体深度的探测仪,其特征在于:

所述编解码器是模拟数字转换器ADC,具有由所述天线输出的数字信号的动态范围。

3.根据权利要求1所述的计算埋入式导体深度的探测仪,其特征在于:

还包括电源集合、通讯模块、及记忆模块。

4.探测仪探测仪一种计算埋入式导体深度的探测仪,其特征在于,探测仪包括:

用来检测上述导体辐射的电磁场的多个天线;

配置在探测天线范围内的基础上去计算上述导体深度的微处理器;

以及显示计算出的上述导体深度的显示装置。

5.根据权利要求4所述的计算埋入式导体深度的探测仪,其特征在于:

所述探测仪进一步包括模拟数字转换器ADC,具有由所述天线输出的数字信号的动态范围。

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