[实用新型]一种用于数模混合信号集成电路的测试装置无效
| 申请号： | 200920031687.X | 申请日： | 2009-01-14 |
| 公开（公告）号： | CN201331568Y | 公开（公告）日： | 2009-10-21 |
| 发明（设计）人： | 刘义芳 | 申请（专利权）人： | 西安明泰半导体测试有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3167 | 分类号： | G01R31/3167 |
| 代理公司： | 西安弘理专利事务所 | 代理人： | 罗 笛 |
| 地址： | 710065陕西省西安市高*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 用于 数模 混合 信号 集成电路 测试 装置 | ||
【权利要求书】：
1、一种用于数模混合信号集成电路的测试装置，包括模拟电路测试系统和测试板(8)，模拟电路测试系统包括电源(1)、多路电压电流源(2)、交流源表(3)、精密电压表(4)、继电器控制接口(5)和时间单元(6)，测试板(8)分别与上述电源(1)、多路电压电流源(2)、交流源表(3)、精密电压表(4)、继电器控制接口(5)和时间单元(6)相连接，其特征在于：
所述测试板(8)上设置有数模混合类IC(16)的测量工位和一个数字信号测试模块(9)，数模混合类IC(16)中的数字部分(10)与数字信号测试模块(9)连接，数模混合类IC(16)中的模拟部分(11)通过测试板(8)上的接口与模拟电路测试系统的电源(1)、多路电压电流源(2)、交流源表(3)、精密电压表(4)、继电器控制接口(5)和时间单元(6)分别连接。
2.按照权利要求1所述的测试装置，其特征在于：所述的数字信号测试模块(9)包括电源模块(12)、微控制器(13)、数字接口(14)和电平匹配(15)，电源模块(12)分别与微控制器(13)和电平匹配(15)相连接，电平匹配(15)与微控制器(13)相连接，微控制器(13)与数字接口(14)相连接。
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