[实用新型]一种用于数模混合信号集成电路的测试装置

说明书

技术领域

本实用新型属于集成电路测试技术领域，涉及一种用于数模混合信号集成电路的测试装置。

背景技术

目前，模拟集成电路测试系统日趋成熟，市场上的装机量已经非常可观，但由于数字集成电路测试系统还处在起步阶段，所以国内各集成电路封装测试厂所用模拟集成电路测试系统基本没有数字集成电路测试功能，极少数带有数字集成电路测试功能的机型价格较高并且测试效率较低。而最近几年，数模混合信号集成电路的品种及用量正在飞速增加，进口的混合信号测试系统由于系统复杂、维护费用高，国内各封装测试厂只能用高昂的价格去购买，不但增加了设备投入和测试成本，而且使得原有的模拟集成电路测试系统的利用率也大大降低。

发明内容

本实用新型的目的是提供一种用于数模混合信号集成电路的测试装置，解决了现有模拟集成电路测试系统不能测试数模混合信号集成电路的问题。

本实用新型所采用的技术方案是，一种用于数模混合信号集成电路的测试装置，包括模拟电路测试系统和测试板，模拟电路测试系统包括电源、多路电压电流源、交流源表、精密电压表、继电器控制接口和时间单元，测试板分别与上述电源、多路电压电流源、交流源表、精密电压表、继电器控制接口和时间单元相连接，所述测试板上设置有数模混合类IC的测量工位和一个数字信号测试模块，数模混合类IC中的数字部分与数字信号测试模块连接，数模混合类IC中的模拟部分通过测试板上的接口与模拟电路测试系统的电源、多路电压电流源、交流源表、精密电压表、继电器控制接口和时间单元分别连接。

本实用新型的测试装置，其特征还在于，所述的数字信号测试模块包括电源模块、微控制器、数字接口和电平匹配，电源模块分别与微控制器和电平匹配相连接，电平匹配与微控制器相连接，微控制器与数字接口相连接。

本实用新型的有益效果是，使得现有的模拟测试机加装数字信号测试模块后，就能够完成对数模混合类IC的数模混合信号测试，结构简单，操作可靠，制作成本低。

附图说明

图1是现有的模拟集成电路测试系统结构框图；

图2是本实用新型测试装置的结构框图；

图3是本实用新型测试装置的数字信号测试模块的内部结构框图；

图4是本实用新型测试装置的测试流程图。

图中，1.电源，2.多路电压电流源，3.交流源表，4.精密电压表，5.继电器控制接口，6.时间单元，7.模拟类IC，8.测试板，9.数字信号测试模块，10.数字部分，11.模拟部分，12.电源模块，13.微控制器，14.数字接口，15.电平匹配。16.数模混合类IC。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施方式对本实用新型进行详细说明。

图1是现有的模拟集成电路测试系统结构框图，由模拟电路测试系统和测试板8组成，在测试板8上放置有待测试的模拟类IC7，测试板8通过各个接口分别与模拟电路测试系统中的电源1、多路电压电流源2、交流源表3、精密电压表4、继电器控制接口5、时间单元6连接，如果是带自动分选功能的话还连接有机械手。测试板8为被测试的模拟类IC7提供外围的工作器件和测量回路；模拟电路测试系统为测试板8和被测试的模拟类IC7提供各种可灵活编程的源(如电源1、多路电压电流源2等)和表(如交流源表3、精密电压表4、时间单元6等)以及继电器控制接口5。当开始测试时，测试系统的测试程序控制测试系统向测试板8施加相应的激励并通过控制继电器的切换，使被测试的模拟类IC7达到某种工作状态及功能后，测试系统再利用自带的仪表来测试此时的模拟类IC7所呈现的状态及功能是否与预期的相符以判定这一参数或功能是否合格。当所有的参数都测试完毕并全部合格，这一颗模拟类IC7才算是良品，否则为不良品。

从以上的模拟测试机的构成上及测试过程来看，由于模拟测试机没有相应的数字接口，所以不可能完成对带有数字部分的数模混合信号IC的检测。