[实用新型]一种双机械手配合同步运行的装置

说明书

技术领域

本实用新型属于集成电路测试技术领域，用于对集成电路的封装测试，涉及一种双机械手配合同步运行的装置。

背景技术

近几年来封装测试企业得到了快速成长，随着国外半导体公司向国内大举转移封装测试业务，国内封装测试企业规模迅速扩大，并保持了每年15％以上的增长量，芯片的年封装测试量已经达到300亿只以上。为了适应这种高速增长的情况，各个封装测试厂一方面增加设备的装机量，另一方面要提高现有设备的利用率，特别是芯片的终测(Final Test)作为芯片生产的最后一道，更是面临快速提高测试产量的因扰。为了提高终测的效率，在现有设备的基础上对设备的运行模式进行了优化，将原来一台装置搭配一台机械手作为一套测试系统的运行方式改为一台装置搭配两台机械手，在这种运行方式下，测试效率可以提高到以前的1.3倍左右，但在实际运行中发现，这种运行方式还是存在着以下缺点：

第一、由于两台机械手运行并非同步，有时会出现其中一台机械手向装置发出的测试请求信号SOT信号丢失，如果SOT丢失，那么丢失SOT信号的机械手将会停机，直到制作人员再次启动它才重新开始工作。第二、装置在处理两台机械手的测试请求时是在接收到一台机械手的测试请求后，并不是马上开始装置械手上的IC，而是再等待另一台机械手的请求信号，如果在规定的时间(Tw)内，另一台机械手的请求信号到来，就开始一起测试，如果在规定的时间内没有等到，才开始测试有请求发出的那一台机械手上的IC。这样，如果有一台机械手因为丢失信号停机或是故障保修而只有一台运行的情况下，装置在收到运行的机械手的请求信号后还是要等待Tw时间才开始测试，大大降低了测试效率。第三、由于是装置和机械手的电气部分直接连接，如果在接地状态不是非常良好的状态下，两个设备存在电势差，在进行连接时十分容易损坏装置的通信接口卡，这种情况在两种运行方式中都是普遍存在的问题。

发明内容

本实用新型的目的是提供一种双机械手配合同步运行的装置，解决了现有技术中存在测试效率低及装置接口卡容易损坏的问题。

本实用新型所采用的技术方案是，一种双机械手配合同步运行的装置，包括1#机械手、2#机械手、测试机及其测试信号接口，所述的1#机械手、2#机械手分别通过信号同步器与测试机上安装的测试信号接口连接；所述的信号同步器又包括信号光电隔离A、信号光电隔离B及信号光电隔离C、电源、状态指示器及微控制器组成，所述的微控制器通过信号光电隔离A与1#机械手连接、通过信号光电隔离B与2#机械手连接、通过信号光电隔离C与测试信号接口连接，微控制器还与状态指示器连接；1#机械手的电源输出线与电源连接，电源再分别与微控制器、信号光电隔离A、信号光电隔离B及信号光电隔离C连接。

本实用新型的有益效果是，彻底消除了装置接口卡容易损坏的问题，解决了测试过程中的不合理等待现象，实现了一台装置搭配两台机械手进行不间断的测试，测试效率明显提高。

附图说明

图1是现有技术中双机械手与装置模块连接框图；

图2是本实用新型的装置模块连接示意图；

图3是本实用新型的装置工作流程图。

图中，1.1#机械手，2.2#机械手，3.测试机，4.测试信号接口，5.信号同步器，6.电源，7.信号光电隔离A，8.信号光电隔离B，9.信号光电隔离C，10.状态指示器，11.微控制器。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施方式对本实用新型进行详细说明。

图1为现有技术中双机械手与装置直接连接框图，1#机械手1和2#机械手2分别与测试机3上安装的测试信号接口4通过扁平通信电缆直接连接。

图2为本实用新型的装置模块连接示意图，包括1#机械手1、2#机械手2分别通过信号同步器5与测试机3上安装的测试信号接口4连接。信号同步器5由三个信号光电隔离、电源6、状态指示器10及微控制器11组成，其中的微控制器11通过信号光电隔离A7与1#机械手1连接、通过信号光电隔离B8与2#机械手2连接、通过信号光电隔离C9与测试信号接口4连接，微控制器11还与状态指示器10连接，1#机械手1的电源输出线还与信号同步器5中的电源6连接，再由电源6分别与微控制器11及三个信号光电隔离A7(B8、C9)连接。