[实用新型]微带式环行器的测试架无效

专利信息
申请号: 200920040610.9 申请日: 2009-04-21
公开(公告)号: CN201392369Y 公开(公告)日: 2010-01-27
发明(设计)人: 黄家栋 申请(专利权)人: 无锡华测电子系统有限公司
主分类号: G01R27/26 分类号: G01R27/26;G01R27/06
代理公司: 无锡市大为专利商标事务所 代理人: 曹祖良
地址: 214072江苏省无锡*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 微带 环行器 测试
【权利要求书】:

1、一种微带式环行器的测试架,其特征是:所述测试架(4)为U形,U形测试架(4)的一个侧壁外侧固定有二个同轴转接器(2),其另一个侧壁外侧固定有一个同轴转接器(2),所述同轴转接器(2)的导体从U形测试架(4)侧壁向内伸出,U形测试架(4)的底板与同轴转接器(2)的导体之间依次设置有弹性垫片(6)、金属滑块(7)及微带式环行器(3),设在U形测试架(4)底部的螺钉(8)穿过U形测试架(4)的底板及弹性垫片(6)后与金属滑块(7)螺纹连接,金属滑块(7)的侧壁上设置有非金属介质,所述非金属介质与金属滑块(7)的侧壁构成分布电容。

2、按照权利要求1所述的微带式环行器的测试架,其特征是所述U形测试架(4)的固定有一个同轴转接器(2)的侧壁的宽度小于其另一个侧壁的宽度。

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