[实用新型]微带式环行器的测试架

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种微带式环行器的测试架，尤其涉及一种宽频带小型化微带式环行器的微波精密测量的专用测试架。

背景技术

环行器是收发组件的一种重要元件。利用其微波单向传输的特性，可以实现发射端口及接收端口与天线有良好的匹配，同时又使接收端口与发射端口有很高的隔离，从而达到了收发信号有序循环转换。小型化微带式环行器适用于重量、体积有严格要求的应用场合，但由于其尺寸小，长、宽、高均在毫米量级范围，使得环行器的参数精确测量并非易事。

一种典型的微带式环行器的测试架，如图1所示，测试架4为长方体，在其三个侧面固定有SMA同轴转接器2，环行器3设置在测试架4的顶部。使用这种测试架的程序如下：

1、使用软金属带1将50欧姆传输线5与环行器3连接，作非破坏性测量；

2、与在测试架4上三个SMA同轴转接器2相连的三根50欧姆传输线依次接上微带匹配负载，并调试到每个SMA端口上的驻波系数VSWR≤1.15；

3、在测试环行器3前，先用一段与环行器3某输入、输出二个端口相同的一段50欧姆微带线连接这两个端口，第三个端口接上50欧姆匹配负载。用网络仪测量该两个端口的插损为IL1；

4、用微带式环行器3替代上述50欧姆传输线，并用网络仪测出同一输入、输出两个端口的插损IL2和端口驻波VSWR，环行器3插损IL为：IL＝IL2-IL1+K，其中K为修正系数，K≈0.1dB～0.17dB，端口驻波系数近似认为是环行器3的驻波系数；

5、依次测量其它两端口，直至完成所有的测量。

使用上述测试架来测量微带式环形器的参数，由于50欧姆传输线5插损和SMA同轴转接器2的影响无法校准，因而只能得到插损和驻波系数近似的测量结果，无法得到微带式环形器的准确参数。典型的微带式环行器的测试架用软金属带连接50欧姆传输线和环行器的方法接触可靠性不好。

发明内容

本实用新型针对上述问题，提供一种能准确测量微带式环行器参数的测试架。

按照本实用新型的技术方案：一种微带式环行器的测试架，所述测试架为U形，U形测试架的一个侧壁外侧固定有二个同轴转接器，其另一个侧壁外侧固定有一个同轴转接器，所述同轴转接器的导体从U形测试架侧壁向内伸出，U形测试架的底板与同轴转接器的导体之间依次设置有弹性垫片、金属滑块及微带式环行器，设在U形测试架底部的螺钉穿过U形测试架的底板及弹性垫片后与金属滑块螺纹连接，金属滑块的侧壁上设置有非金属介质，所述非金属介质与金属滑块的侧壁构成分布电容。

所述U形测试架的固定有一个同轴转接器的侧壁的宽度小于其另一个侧壁的宽度。

本实用新型的技术效果在于：金属滑块在螺钉与弹性垫片的作用下带动微带式环行器上下移动，使微带式环行器与同轴转接器的导体有良好接触；金属滑块的侧壁与侧壁上的非金属介质构成的分布电容，保证了微带式环行器有良好的微波接地；将测试界面选在环行器三个端口，经过校准，用网络仪可得到环行器精密的测量结果。

附图说明

图1为现有的微带式环行器的测试架的立体示意图；

图2为本实用新型的立体示意图；

图3为本实用新型的剖面图。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型的具体实施方式作进一步的说明。

如图2、图3所示，本实用新型为一种微带式环行器的测试架，所述测试架4为U形，U形测试架4的一个侧壁外侧固定有二个同轴转接器2，其另一个侧壁外侧固定有一个同轴转接器2，所述同轴转接器2的导体从U形测试架4侧壁向内伸出，U形测试架4的底板与同轴转接器2的导体之间依次设置有弹性垫片6、金属滑块7及微带式环行器3，设在U形测试架4底部的螺钉8穿过U形测试架4的底板及弹性垫片6后与金属滑块7螺纹连接，金属滑块7的侧壁上设置有非金属介质，所述非金属介质与金属滑块7的侧壁构成分布电容。金属滑块7的侧壁与侧壁上的非金属介质构成的分布电容，保证了微带式环行器3有良好的微波接地。

所述U形测试架4的固定有一个同轴转接器2的侧壁的宽度小于其另一个侧壁的宽度，可使测试架4的结构更简单。

本实用新型的工作过程：转动测试架4底部的螺钉8，使金属滑块7向下平移，压紧弹性垫片6，然后插入待测的微带环行器3，使之与同轴转接器2的导体对准。接着反向转动螺钉8，恢复的弹性垫片6将金属滑块7向上推动，直到环行器3与同轴转接器2的导体压紧为止，从而保证了环行器3与同轴转接器2的导体电接触良好。

使用本实用新型既能使环行器3与固定在测试架4上的同轴转接器2内导体有良好接触，又有良好的微波接地。而且可以将测试界面选在环行器3的三个端口，经过校准，用网络仪可得到环行器3精密的测量结果。