[实用新型]一种具有双弯晶固定元素道分光器的X荧光光谱分析仪

权利要求书

1.一种具有双弯晶固定元素道分光器的X荧光光谱分析仪，它包括X光管及X射线发生装置、若干个固定元素道分光器、真空测量室和抽真空系统、自动控制系统、X射线探测器、元素特征X射线谱峰检测装置以及上位PC计算机，其特征在于：所述固定元素道分光器包括有入射狭缝管组件、与入射管组件尾部连接的分光盒组件、与分光盒组件连接的出射狭缝管组件；

所述入射狭缝管组件包括有入射通道的管体、安装在该入射通道头部的狭缝宽度调节机构以及安装在该入射通道尾部的光栏板；所述出射狭缝管组件包括有出射通道的管体以及安装在该出射通道头部的狭缝板，该出射狭缝管组件的尾部与所述分光盒组件的盒体连接；所述分光盒组件包括有盒体以及安装在该盒体内部的弯晶组件，该弯晶组件包括有弯晶、晶体托架和入射角调节机构；所述入射通道的光轴通过弯晶的中心，其入射角等于被测元素的衍射角，所述出射通道的光轴通过弯晶的中心，其出射角等于入射角；

所述入射狭缝管组件的管体内的入射通道数量为两条，且其结构相同，各入射通道头部均设置一狭缝宽度调节机构，尾部均设置一光栏板；所述入射管组件的管体的尾部与盒体连接；

所述出射狭缝管组件的数量为两个，且其结构相同，每个出射狭缝管组件的尾部分别与分光盒组件的盒体连接；

所述分光盒组件的盒体内安装有两套弯晶组件，每套弯晶组件与一个入射通道和一个出射狭缝管组件构成一条衍射光路，该光路中，入射角和出射角相等。

2.根据权利要求1所述的X荧光光谱分析仪，其特征在于：所述入射狭缝管组件管体内的两路入射光轴与管体中心轴线之间的夹角为4°～6°；两路入射光轴的入射角分别为θ₁和θ₂，θ₁和θ₂分别为两种被测元素的衍射角，所述的两个出射狭缝管组件上的两条出射光轴的出射角分别为θ₁和θ₂。

3.根据权利要求1所述的X荧光光谱分析仪，其特征在于：所述出射狭缝管管体的端部连接所述X射线探测器。

4.根据权利要求2所述的X荧光光谱分析仪，其特征在于：所述X射线探测器为两个，每个出射狭缝管管体的端部连接一个X射线探测器。

5.根据权利要求3或4所述的X荧光光谱分析仪，其特征在于：所述的X射线探测器为以下的一种：流气式正比计数器、封闭式正比计数器或者闪烁计数器。

6.根据权利要求1或2或3或4所述的同定型X荧光光谱仪，其特征在于：所述入射狭缝管组件的管体的轴心线通过盒体的中心。

7.根据权利要求5所述的X荧光光谱分析仪，其特征在于：所述入射管组件的管体的轴心线通过盒体的中心。

8.根据权利要求1或2或3或4所述的X荧光光谱分析仪，其特征在于：所述的弯晶为约翰逊型、约翰型或对数螺旋曲面型；该弯晶的中心至入射、出射狭缝之间的距离为130～210mm。

9.根据权利要求5所述的X荧光光谱分析仪，其特征在于：所述的弯晶为约翰逊型、约翰型或对数螺旋曲面型；该弯晶的中心至入射、出射狭缝之间的距离为130～210mm。

10.根据权利要求6所述的X荧光光谱分析仪，其特征在于：所述的弯晶为约翰逊型、约翰型或对数螺旋曲面型；该弯晶的中心至入射、出射狭缝之间的距离为130～210mm。