[实用新型]一种芯片测试系统及自动测试向量发生器ATPG

权利要求书

1.一种引脚可配置芯片测试座，包括：

1组IO口；一个边界扫描JTAG接口；一个通用串行总线USB接口；

其特征在于，所述引脚可配置芯片测试座还包括：

一个现场可编程门阵列FPGA芯片；一个配置芯片；一个Nand Flash闪存芯片；一个自动测试向量发生器ATPG。

2.如权利要求1所述的引脚可配置芯片测试座，其特征在于，所述IO口功能与输入/输出属性可通过现场可编程门阵列FPGA芯片重新配置。

3.如权利要求1所述的引脚可配置芯片测试座，其特征在于，所述IO口功能可被重新配置，用于与不同型号被测闪存芯片交互数据。

4.如权利要求1所述的引脚可配置芯片测试座，其特征在于，所述自动测试向量发生器ATPG可自动产生被测芯片地址向量、数据向量、控制向量。

5.如权利要求1所述的引脚可配置芯片测试座，其特征在于，所述通用串行总线USB接口用于与控制计算机进行配置与控制数据交互。

6.一种芯片测试系统，包括：

1台具有USB接口的控制计算机；被测闪存芯片；控制软件模块；一个引脚可配置芯片测试座；其特征在于，所述芯片测试系统，在控制软件模块控制下，通过控制计算机USB接口，与引脚可配置芯片测试座交互数据，达到重新配置引脚功能与输入/输出属性，并向自动测试向量发生器ATPG发送控制数据。