[实用新型]一种芯片测试系统及自动测试向量发生器ATPG

说明书

所属技术领域

本实用新型涉及一种芯片测试系统，它具有自动测试向量发生器ATPG功能，尤其适合对不同型号的闪存芯片进行测试与软件加载。

背景技术

目前，闪存芯片的测试与软件加载主要通过边界扫描测试与加载设备进行。使用者要针对不同型号的闪存芯片分别编写测试脚本，通过测试脚本产生相应的测试向量，才能进行测试。但测试脚本编写有一定难度，工作量大，通用性差，延长了测试周期，加大了测试成本。

发明内容

为了克服现有的边界扫描测试与加载设备测试脚本编写困难的不足，本实用新型提供一种测试系统和自动测试向量发生器ATPG，该测试系统能对不同型号的闪存芯片进行自动测试。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：利用现场可编程门阵列FPGA芯片，设计一个引脚可配置芯片测试座，使FPGA芯片IO引脚与芯片测试座引脚固定连接，通过配置芯片，对FPGA芯片IO引脚功能与输入/输出属性进行重新配置，从而与不同型号被测闪存芯片交互数据。

自动测试向量发生器ATPG根据被测闪存型号，产生相应测试向量，通过现场可编程门阵列FPGA芯片IO引脚送入被测闪存芯片，把闪存输出数据与期望值对比，达到故障诊断与定位的目的。

本实用新型的有益效果是，用户只需把被测闪存芯片型号输入计算机，不用编写测试脚本，大幅缩短了测试周期，降低了测试成本。

附图说明

下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。

图1是本实用新型的系统框图。

图2是引脚可配置芯片测试座的电路原理框图。

具体实施方式

在图1中，在控制软件模块控制下，通过所述控制计算机USB接口，向所述配置芯片发送配置数据，向所述Nand Flash发送待加载数据，从被测闪存芯片数据总线读出闪存输出数据，把该输出数据送回计算机并与期望值对比。若输出数据与期望值相同，则被测存储单元正常；若不相同，则被测存储单元损坏；若被测闪存是Nor Flash，则判定整个芯片损坏；若被测闪存是Nand Flash，则进行坏块标注，若损坏单元超过限度，判定整个Nand Flash芯片损坏。

在图2中，USB接口控制器首先接收控制计算机发送的现场可编程门阵列FPGA配置文件，并将其写入配置芯片；USB接口控制器再接收控制计算机发送的待加载数据，并将其写入Nand Flash；最后，USB接口控制器接收控制计算机发送的自动测试向量发生器ATPG产生的测试向量，并将其写入Nand Flash。

配置芯片对FPGA进行配置。FPGA正常工作后，向被测闪存地址总线、数据总线、控制总线写入测试向量，从数据总线读出被测闪存输出数据。该输出数据由USB接口控制器送回控制计算机，由控制计算机进行数据分析，给出故障诊断与定位结果。

若被测闪存没有故障，FPGA则将Nand Flash中的待加载数据写入被测闪存。至此闪存的测试与加载结束。

所述自动测试向量发生器ATPG可产生4种长度可变的测试向量：

00000000  全0序列

00000001  走步1序列，只有一个1，其余位均为0

00000010  走步1序列

10000000  走步1序列

11111110  走步0序列，只有一个0，其余位均为1

11111101  走步0序列

01111111  走步0序列

11111111  全1序列

以上4种序列产生容易，测试完备性较好，非常适合闪存芯片的测试。