[实用新型]语音类集成电路的测试装置无效

专利信息
申请号: 200920131435.4 申请日: 2009-05-05
公开(公告)号: CN201514460U 公开(公告)日: 2010-06-23
发明(设计)人: 刘伟;王英广 申请(专利权)人: 深圳安博电子有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 深圳市博锐专利事务所 44275 代理人: 张明
地址: 518000 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 语音 集成电路 测试 装置
【权利要求书】:

1.一种语音类集成电路的测试装置,其特征在于,包括:

处理单元;

对探针台进行设置的通讯单元,其连接所述处理单元,并包括与所述探针台连接的端口;

输出电压给被测语音类集成电路进行电流测试、或输出电流给所述被测语音类集成电路进行电压测试的激励单元,其连接所述处理单元;

同时分别向所述被测语音类集成电路以及标准样品发送测试信号的功能测试单元,其连接所述处理单元、所述被测语音类集成电路以及标准样品;

比较所述被测语音类集成电路以及标准样品的输出是否相同、并将比较结果反馈回所述处理单元的比对单元。

2.根据权利要求1所述的语音类集成电路的测试装置,其特征在于:进一步包括连接所述处理单元的通用串行总线USB接口卡。

3.根据权利要求2所述的语音类集成电路的测试装置,其特征在于:所述USB接口卡包括依次连接的接口、USB模块、现场可编程门阵列FPGA状态机与数据命令解析模块,所述处理单元包括数据模块与命令模块,所述数据模块与命令模块分别连接所述FPGA状态机与数据命令解析模块,所述数据模块与命令模块分别连接所述通讯单元、激励单元、功能测试单元。

4.根据权利要求1至3任一项所述的语音类集成电路的测试装置,其特征在于:所述通讯单元包括隔离所述处理器与探针台之间信号干扰的隔离器。

5.根据权利要求4所述的语音类集成电路的测试装置,其特征在于:所述隔离器是光耦隔离器。

6.根据权利要求1至3任一项所述的语音类集成电路的测试装置,其特征在于:所述通讯单元包括将所述通讯单元切换到不同探针台的切换器。

7.根据权利要求1至3任一项所述的语音类集成电路的测试装置,其特征在于:所述通讯单元是晶体管-晶体管逻辑电路TTL通讯单元,所述激励单元是动作时间单元TMU测试单元。

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