[实用新型]一种星座图检测装置无效

专利信息
申请号: 200920160054.9 申请日: 2009-06-16
公开(公告)号: CN201435829Y 公开(公告)日: 2010-03-31
发明(设计)人: 戴闽鲁;白栋;金学广;张克俭;周玉坤;陶涛;小岛正人;葛启宏 申请(专利权)人: 日本芝测株式会社;北京泰美世纪科技有限公司
主分类号: H04W24/00 分类号: H04W24/00;H04B17/00
代理公司: 北京中博世达专利商标代理有限公司 代理人: 申 健
地址: 日本东京*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 一种 星座图 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种星座图检测装置,包括基带板单元和显示控制单元,其特征在于,

基带板单元包括除包括解调模块、输出接口外,还包括星座映射统计模块;

解调模块输出I/Q数据给星座映射统计模块,由星座映射统计模块对I/Q数据进行子区域映射统计后输出I/Q统计数据给输出接口,I/Q统计数据经输出接口输出给显示控制单元,由显示控制单元进行星座图的显示。

2、根据权利要求1所述的装置,其特征在于,显示控制单元还包括控制模块,所述控制模块通过输入输出接口初始化基带板单元中的解调模块及星座图映射统计模块,以及对星座图映射统计模块进行统计周期参数、映射参数的设置。

3、根据权利要求2所述的装置,其特征在于,星座映射统计模块包括:映射模块、存储统计模块、定时器模块、统计输出模块,

映射模块根据控制模块提供的映射参数将I/Q平面分解为多个显示的基本子区域,将每一个测试得到的I/Q数据映射到相应的子区域;存储统计模块对显示的基本子区域的I/Q数据分别进行次数统计并存储;定时器模块根据所述控制模块设定的周期参数为统计输出模块提供输出脉冲,统计输出模块在输出脉冲到来时从存储统计模块读取各显示的基本子区域的I/Q统计数据并将I/Q统计数据输出给显示控制单元。

4、根据权利要求3所述的装置,其特征在于,所述存储统计模块包含N*M个计数器,N及M值由显示控制单元星座图显示分辨率确定,所述存储统计模块中的每一个计数器对应I/Q坐标系中的一个显示的基本子区域。

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