[实用新型]一种星座图检测装置无效

专利信息
申请号: 200920160054.9 申请日: 2009-06-16
公开(公告)号: CN201435829Y 公开(公告)日: 2010-03-31
发明(设计)人: 戴闽鲁;白栋;金学广;张克俭;周玉坤;陶涛;小岛正人;葛启宏 申请(专利权)人: 日本芝测株式会社;北京泰美世纪科技有限公司
主分类号: H04W24/00 分类号: H04W24/00;H04B17/00
代理公司: 北京中博世达专利商标代理有限公司 代理人: 申 健
地址: 日本东京*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 星座图 检测 装置
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及数字通信和数字广播检测技术,尤其涉及一种星座图检测装置。

背景技术

在数字通信和数字广播系统中,为了测量数字信号经调制和解调后的信道传输质量,需要对调制方式的特性参数进行测试。星座图是判断信号调制质量的重要参数,现有检测装置的逻辑结构如图1所示,检测过程为:接收端接收的射频RF信号经模数A/D转换后形成数字信号送入基带板单元,基带板单元中的解调模块对基带数字信号进行解调输出可用于星座图显示的I/Q信号,I/Q信号经输出接口输出给显示单元,显示单元经输入接口接收后将I/Q信号送显示模块显示。为了增加解码的效率,要用尽可能多得比特位来表示I/Q的值。这样需要用高分辨率的显示器显示I/Q平面的I/Q值,这将增加仪器的成本。通常厂家将在成本和精度之间做出综合的考虑。此外,由于解调的速率比较高,一般以兆符号/秒为单位,如在地面数字标准中,符号速率达到10兆符号/秒,如果解调模块按解调速率输出I/Q数据给显示单元,那么将会有大量数据需要通过接口模块传送到显示模块,这将增加对解调和显示模块的处理速度的要求,增加系统设计的复杂性。

实用新型内容

鉴于上述问题,本实用新型的目的在于提供一种星座图检测装置,用于解决解调模块输出I/Q数据速率过高时对接口模块/显示模块处理速度要求过高以及I/Q的取值范围与显示模块的屏幕分辨率不匹配的技术问题。

为实现上述目的,本实用新型所采用的技术方案如下:

一种星座图检测装置,包括基带板单元和显示控制单元,

基带板单元包括除包括解调模块、输出接口外,还包括星座映射统计模块;

解调模块输出I/Q数据给星座映射统计模块,由星座映射统计模块对I/Q数据进行子区域映射统计后输出I/Q统计数据给输出接口,I/Q统计数据经输出接口输出给显示控制单元,由显示控制单元进行星座图的显示。

进一步地,显示控制单元还包括控制模块,所述控制模块通过输入输出接口初始化基带板单元中的解调模块及星座图映射统计模块,以及对星座图映射统计模块进行统计周期参数、映射参数的设置。

进一步地,星座映射统计模块包括:映射模块、存储统计模块、定时器模块、统计输出模块。

映射模块根据控制模块提供的映射参数将I/Q平面分解为多个显示的基本子区域,将每一个测试得到的I/Q数据映射到相应的子区域;存储统计模块对显示的基本子区域的I/Q数据分别进行次数统计并存储;定时器模块根据所述控制模块设定的周期参数为统计输出模块提供输出脉冲,统计输出模块在输出脉冲到来时从存储统计模块读取各显示的基本子区域的I/Q统计数据并将I/Q统计数据输出给显示控制单元。

进一步地,所述存储统计模块包含N*M个计数器,N及M值由显示控制单元星座图显示分辨率确定,所述存储统计模块中的每一个计数器对应I/Q坐标系中的一个显示的基本子区域。

本实用新型在基带板单元中添加了星座映射统计模块,用于将I/Q测量数据在基带板单元内进行映射统计处理后再传送到显示控制单元进行显示,从而减少了从基带板单元传递到显示控制单元的数据量,降低了对输入输出模块和显示模块的硬件处理速度的要求,节约了硬件成本。

附图说明

图1为现有星座图检测装置的电路原理图;

图2A为本实用新型实现I/Q测量数据的子区域映射原理图;

图2B为本实用新型I/Q统计数据与对应计数器的对应关系图;

图3为本实用新型的星座图检测装置的电路原理图;

图4为本实用新型星座图检测装置中的星座映射统计模块的结构图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型实施方式作进一步的详细说明。

发明的核心思想是在基带板单元输出I/Q测量数据之前,对I/Q测量数据进行子区域的映射统计,减少从基带板单元传递到显示控制单元的数据量,显示控制单元显示经子区域映射统计后的I/Q统计数据,从而既降低了对接口的带宽要求又降低了对显示单元分辨率及处理速度的要求。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于日本芝测株式会社;北京泰美世纪科技有限公司,未经日本芝测株式会社;北京泰美世纪科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200920160054.9/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top