[实用新型]用于为集成电路设计形成基于扫描的测试设计的系统

权利要求书

1.一种用于为集成电路设计形成基于扫描的测试设计的系统，包括：

形成装置，用于为电路设计形成多个候选测试设计，其中包括生成装置，用于根据电路设计来生成多个测试矢量；

生成装置，用于为每一个候选测试设计生成一个测试协议品质因数；以及

选择装置，用于根据对为每一个候选测试设计生成的测试协议品质因数的比较来选择其中一个候选测试设计，以便在集成电路器件中实施，

其中用于生成多个测试矢量的生成装置使用了预定的自动测试模式生成算法，

以及其中用于为每一个候选测试设计生成测试协议品质因数的生成装置包括确定装置，用于仅使用如果预定的自动测试模式生成算法运行至结束将会生成的测试矢量的采样来确定用于每一个特定的候选测试设计的测试协议品质因数。

2.根据权利要求1的系统，其中所述多个候选测试设计包括电路设计的状态寄存器到扫描链的不同排列。

3.根据权利要求1的系统，其中所述多个候选测试设计包括将器件扫描输入引脚互连到扫描链输入的不同解压缩电路。

4.根据权利要求1的系统，其中所述多个候选测试设计包括将扫描链输出互连到器件扫描输出引脚的不同压缩电路。

5.根据权利要求1的系统，其中所述多个候选测试设计包括用于控制该自动测试模式生成算法操作的不同配置参数值。

6.根据权利要求1的系统，还包括并入装置用于将电路设计以及至少扫描链排列和解压缩器排列并入到组合设计中，其中所述扫描链排列和解压缩器排列来自在选择装置中选择的候选测试设计；以及

运行装置，用于根据组合设计来将所述预定的自动测试模式生成算法运行至结束。

7.根据权利要求1的系统，还包括运行装置，用于根据在选择装置中选择的候选测试设计，将预定的自动测试模式生成算法运行至结束。

8.根据权利要求7的系统，其中用于运行预定的自动测试模式生成算法至结束的运行装置生成多个测试矢量，

还包括提供装置，用于向集成电路测试设备提供多个测试矢量，以便在测试依照电路设计和在选择装置中选择的候选测试设计制造的集成电路芯片中使用。

9.根据权利要求7的系统，其中所述多个候选测试设计包括用于控制自动测试模式生成算法操作的不同配置参数值，

以及其中用于运行预定的自动测试模式生成算法至结束的运行装置包括用于在选择装置选定的候选测试设计中应用该配置参数值的应用装置。

10.根据权利要求1的系统，还包括生成装置，用于根据电路设计以及在选择装置中选定的候选测试设计来生成一组制造屏蔽。

11.根据权利要求1的系统，其中测试矢量采样至多包含256个测试矢量。

12.根据权利要求11的系统，其中测试矢量采样包含的测试矢量超过32个。

13.根据权利要求1的系统，其中测试矢量采样至多包含64个测试矢量。

14.根据权利要求1的系统，其中预定的自动测试模式生成算法按顺序生成测试模式，

以及其中测试矢量采样只包括预定的自动测试模式生成算法生成的前N个测试矢量，其中N是预定整数，其对多个候选测试设计中的所有候选测试设计来说都是固定的。

15.根据权利要求14的系统，其中用于生成多个测试矢量的生成装置包括操作装置，用于操作所述预定的自动测试模式生成算法，直至生成N个测试矢量；以及

停止装置，用于在生成任何进一步的测试矢量之前，停止执行所述预定的自动测试模式生成算法。

16.根据权利要求1的系统，其中测试协议的品质因数是测试协议质量量度。

17.根据权利要求1的系统，其中测试协议品质因数是故障覆盖率。

18.根据权利要求1的系统，其中用于选择其中一个候选测试设计的选择装置包括用于候选测试设计中以迭代方式搜索一个将测试协议品质因数最大化的候选测试设计的搜索装置。

19.根据权利要求1的系统，其中用于根据电路设计来生成多个测试矢量的生成装置包括：

识别装置，用于识别有可能在根据所述电路设计制造的集成电路器件中出现的潜在故障集合；以及

操作装置，用于操作所述预定的自动测试模式生成算法，以便仅仅以所述潜在故障集合中的潜在故障采样为目标。