[实用新型]一种老化测试基板有效
| 申请号： | 200920212174.9 | 申请日： | 2009-11-10 |
| 公开（公告）号： | CN201535784U | 公开（公告）日： | 2010-07-28 |
| 发明（设计）人： | 刘云海;冯军宏 | 申请（专利权）人： | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/02 | 分类号： | G01R1/02;G01R31/28;G01R19/00 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 屈蘅;李时云 |
| 地址： | 20120*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 老化 测试 | ||
【权利要求书】：
1.一种老化测试基板，在老化测试试验时连接老化机台，实现老化测试功能，包括：
若干器件插座，用于插接待测器件；
电源接口金手指，在老化测试试验时连到所述老化机台的电源接口；
其特征在于，每个所述器件插座连接一电阻，连接电阻后的所有所述器件插座，通过金属互联线并联到所述电源接口金手指上。
2.如权利要求1中所述的老化测试基板，其特征在于，所述电阻阻值小于等于1欧姆。
3.如权利要求1中所述的老化测试基板，其特征在于，每个所述电阻两端都连接有金属引线。
4.如权利要求3中所述的老化测试基板，其特征在于，老化测试基板还包括耐高温接口，所述金属引线分别连接所述耐高温接口。
5.如权利要求4所述的老化测试基板，其特征在于，所述老化测试基板还包括外置接口板，所述外置接口板包括排线接口和表笔接口，所述排线接口通过排线连接到所述耐高温接口，所述表笔接口用于插接外部量测仪。
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