[实用新型]一种X荧光光谱镀层分析仪无效
| 申请号： | 200920234680.8 | 申请日： | 2009-08-12 |
| 公开（公告）号： | CN201497712U | 公开（公告）日： | 2010-06-02 |
| 发明（设计）人： | 黄清华 | 申请（专利权）人： | 江苏天瑞仪器股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人： | 楼高潮 |
| 地址： | 215300 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 荧光 光谱 镀层 分析 | ||
【权利要求书】：
1.一种X荧光光谱镀层分析仪，包括主支架、测试组件、以及样品平台，所述测试组件固定于所述主支架的上的一升降平台框上，所述样品平台位于所述主支架的底部且位于所述升降平台框的下方，其特征在于：所述升降平台框与所述主支架之间设有滑轨，所述升降平台框上连有一Z轴电机。
2.如权利要求1所述的X荧光光谱镀层分析仪，其特征在于：所述样品平台上连有X轴电机与Y轴电机。
3.如权利要求1所述的X荧光光谱镀层分析仪，其特征在于：所述测试组件底部两侧设有位置传感器。
4.如权利要求1所述的X荧光光谱镀层分析仪，其特征在于：所述测试组件底部中间位置设有高度激光装置。
5.如权利要求1所述的X荧光光谱镀层分析仪，其特征在于：所述测试组件包括一摄像头。
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